Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie

Wydział Elektryczny - Elektronika i Telekomunikacja (N2)
specjalność: Układy i Systemy Elektroniczne

Sylabus przedmiotu Analiza wrażliwościowa układów analogowych:

Informacje podstawowe

Kierunek studiów Elektronika i Telekomunikacja
Forma studiów studia niestacjonarne Poziom drugiego stopnia
Tytuł zawodowy absolwenta magister inżynier
Obszary studiów nauk technicznych
Profil ogólnoakademicki
Moduł
Przedmiot Analiza wrażliwościowa układów analogowych
Specjalność przedmiot wspólny
Jednostka prowadząca Katedra Elektrotechnologii i Diagnostyki
Nauczyciel odpowiedzialny Konstanty Gawrylczyk <Konstanty.Gawrylczyk@zut.edu.pl>
Inni nauczyciele
ECTS (planowane) 4,0 ECTS (formy) 4,0
Forma zaliczenia zaliczenie Język polski
Blok obieralny Grupa obieralna

Formy dydaktyczne

Forma dydaktycznaKODSemestrGodzinyECTSWagaZaliczenie
laboratoriaL1 20 2,00,38zaliczenie
wykładyW1 20 2,00,62zaliczenie

Wymagania wstępne

KODWymaganie wstępne
W-1Znajomość podstaw informatyki
W-2Znajomość teorii obwodów elektrycznych i elektronicznych

Cele przedmiotu

KODCel modułu/przedmiotu
C-1Opanowanie numerycznych metod analizy obwodów elektronicznych
C-2Zapoznanie z metodami oraz zastosowaniami analizy wrażliwości obwodów elektronicznych

Treści programowe z podziałem na formy zajęć

KODTreść programowaGodziny
laboratoria
T-L-1Analiza numeryczna układów w dziedzinie częstotliwości i czasu.4
T-L-2Analiza w dziedzinie czasu z zastosowaniem modeli indukcyjności i pojemności.4
T-L-3Wyznaczanie składników wrażliwościowych w dziedzinie częstotliwości4
T-L-4Użycie metod analizy wrażliwościowej do wyznaczenia szumów układu elektronicznego.1
T-L-5Projektowanie układu stałoprądowego.3
T-L-6Projektowanie charakterystyki układu korektora i filtru.4
20
wykłady
T-W-1Analiza numeryczna obwodów elektronicznych. Struktura obwodu. Budowa programów do analizy komputerowej.1
T-W-2Analiza numeryczna w dziedzinie czasu. Rząd układu. Modele pojemności i indukcyjności liniowej. Modele innych elementów układu.1
T-W-3Definicja wrażliwości. Wyznaczanie wrażliwości metodą bezpośrednią. Twierdzenie Tellegena. Zastosowanie do wyznaczenia wrażliwości prostego układu rezystancyjnego.1
T-W-4Układy przyrostowe. Idea metody i jej realizacja numeryczna. Wyznaczenie wrażliwości prostego układu metodą układu przyrostowego.1
T-W-5Układy dołączone w dziedzinie częstotliwości. Wybór pobudzenia układu dołączonego stosownie do zagadnienia.1
T-W-6Układy dołączone w dziedzinie czasu. Przykład analizy wrażliwości w dziedzinie czasu.1
T-W-7Wyznaczanie gradientu błędu kwadratowej funkcji celu metodą układu dołączonego.1
T-W-8Wyznaczanie wrażliwości z postaci symbolicznej funkcji przejścia obwodu.2
T-W-9Zastosowanie modeli dołączonych do analizy szumów układów elektronicznych.2
T-W-10Obliczanie wrażliwości dla nieliniowych układów rezystancyjnych.2
T-W-11Wykorzystanie metod optymalizacji do projektowania obwodów. Analiza wrażliwości jako źródło informacji gradientowej.2
T-W-12Zadanie projektowe oparte na analizie wrażliwości. Praktyczne rozwiązywanie zadań nadokreślonych. Praktyczne aspekty zbieżności algorytmu projektowego.2
T-W-13Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania układów stałoprądowych.1
T-W-14Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania charakterystyk częstotliwościowych korektorów i filtrów.1
T-W-15Zadania projektowe z wykorzystaniem analizy wrażliwości.1
20

Obciążenie pracą studenta - formy aktywności

KODForma aktywnościGodziny
laboratoria
A-L-1Wykonanie indywidualnych zadań przewidzianych w treściach programowych20
A-L-2Samodzielne przygotowanie do laboratorium i opracowanie sprawozdań40
60
wykłady
A-W-1Uczestnictwo w wykładzie20
A-W-2Utrwalenie i pogłębienie wiadomości30
A-W-3Przygotowanie do zaliczenia10
60

Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne

KODMetoda nauczania / narzędzie dydaktyczne
M-1Wykład informacyjny.
M-2Ćwiczenia laboratoryjne - projektowanie układów elektronicznych i inne zastosowania analizy wrażliwości

Sposoby oceny

KODSposób oceny
S-1Ocena podsumowująca: Zaliczenie pisemne wykładu
S-2Ocena formująca: Wykonanie i zaliczenie zestawu zadań indywidualnych

Zamierzone efekty kształcenia - wiedza

Zamierzone efekty kształceniaOdniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówOdniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaCel przedmiotuTreści programoweMetody nauczaniaSposób oceny
ET_2A_C01_W01
Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych
ET_2A_W06T2A_W03, T2A_W07C-1, C-2T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7, T-W-8, T-W-9, T-W-10, T-W-11, T-W-12, T-W-13, T-W-14, T-W-15M-1S-1

Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności

Zamierzone efekty kształceniaOdniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówOdniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaCel przedmiotuTreści programoweMetody nauczaniaSposób oceny
ET_2A_C01_U01
Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych
ET_2A_U10T2A_U09, T2A_U18C-2T-L-5, T-W-12M-1, M-2S-2
ET_2A_C01_U02
Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice
ET_2A_U15T2A_U09C-2T-L-1, T-L-2, T-L-3, T-L-4, T-L-6M-2S-2

Kryterium oceny - wiedza

Efekt kształceniaOcenaKryterium oceny
ET_2A_C01_W01
Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych
2,0
3,0Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych.
3,5
4,0
4,5
5,0

Kryterium oceny - umiejętności

Efekt kształceniaOcenaKryterium oceny
ET_2A_C01_U01
Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych
2,0
3,0Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych.
3,5
4,0
4,5
5,0
ET_2A_C01_U02
Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice
2,0
3,0Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice.
3,5
4,0
4,5
5,0

Literatura podstawowa

  1. Białko M., Analiza układów elektronicznych wspomagana mikrokomputerem, WNT, Warszawa, 1989
  2. Chua L. O.. Lin P. M., Komputerowa analiza układów elektronicznych, WNT, Warszawa, 1981

Literatura dodatkowa

  1. K.M.Gawryllczyk, Strony www kmg.zut.edu.pl, ZUT, Szczecin, 2012

Treści programowe - laboratoria

KODTreść programowaGodziny
T-L-1Analiza numeryczna układów w dziedzinie częstotliwości i czasu.4
T-L-2Analiza w dziedzinie czasu z zastosowaniem modeli indukcyjności i pojemności.4
T-L-3Wyznaczanie składników wrażliwościowych w dziedzinie częstotliwości4
T-L-4Użycie metod analizy wrażliwościowej do wyznaczenia szumów układu elektronicznego.1
T-L-5Projektowanie układu stałoprądowego.3
T-L-6Projektowanie charakterystyki układu korektora i filtru.4
20

Treści programowe - wykłady

KODTreść programowaGodziny
T-W-1Analiza numeryczna obwodów elektronicznych. Struktura obwodu. Budowa programów do analizy komputerowej.1
T-W-2Analiza numeryczna w dziedzinie czasu. Rząd układu. Modele pojemności i indukcyjności liniowej. Modele innych elementów układu.1
T-W-3Definicja wrażliwości. Wyznaczanie wrażliwości metodą bezpośrednią. Twierdzenie Tellegena. Zastosowanie do wyznaczenia wrażliwości prostego układu rezystancyjnego.1
T-W-4Układy przyrostowe. Idea metody i jej realizacja numeryczna. Wyznaczenie wrażliwości prostego układu metodą układu przyrostowego.1
T-W-5Układy dołączone w dziedzinie częstotliwości. Wybór pobudzenia układu dołączonego stosownie do zagadnienia.1
T-W-6Układy dołączone w dziedzinie czasu. Przykład analizy wrażliwości w dziedzinie czasu.1
T-W-7Wyznaczanie gradientu błędu kwadratowej funkcji celu metodą układu dołączonego.1
T-W-8Wyznaczanie wrażliwości z postaci symbolicznej funkcji przejścia obwodu.2
T-W-9Zastosowanie modeli dołączonych do analizy szumów układów elektronicznych.2
T-W-10Obliczanie wrażliwości dla nieliniowych układów rezystancyjnych.2
T-W-11Wykorzystanie metod optymalizacji do projektowania obwodów. Analiza wrażliwości jako źródło informacji gradientowej.2
T-W-12Zadanie projektowe oparte na analizie wrażliwości. Praktyczne rozwiązywanie zadań nadokreślonych. Praktyczne aspekty zbieżności algorytmu projektowego.2
T-W-13Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania układów stałoprądowych.1
T-W-14Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania charakterystyk częstotliwościowych korektorów i filtrów.1
T-W-15Zadania projektowe z wykorzystaniem analizy wrażliwości.1
20

Formy aktywności - laboratoria

KODForma aktywnościGodziny
A-L-1Wykonanie indywidualnych zadań przewidzianych w treściach programowych20
A-L-2Samodzielne przygotowanie do laboratorium i opracowanie sprawozdań40
60
(*) 1 punkt ECTS, odpowiada około 30 godzinom aktywności studenta

Formy aktywności - wykłady

KODForma aktywnościGodziny
A-W-1Uczestnictwo w wykładzie20
A-W-2Utrwalenie i pogłębienie wiadomości30
A-W-3Przygotowanie do zaliczenia10
60
(*) 1 punkt ECTS, odpowiada około 30 godzinom aktywności studenta
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty kształceniaET_2A_C01_W01Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówET_2A_W06Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów i systemów elektronicznych oraz telekomunikacyjnych.
Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaT2A_W03ma uporządkowaną, podbudowaną teoretycznie wiedzę ogólną obejmującą kluczowe zagadnienia z zakresu studiowanego kierunku studiów
T2A_W07zna podstawowe metody, techniki, narzędzia i materiały stosowane przy rozwiązywaniu złożonych zadań inżynierskich z zakresu studiowanego kierunku studiów
Cel przedmiotuC-1Opanowanie numerycznych metod analizy obwodów elektronicznych
C-2Zapoznanie z metodami oraz zastosowaniami analizy wrażliwości obwodów elektronicznych
Treści programoweT-W-1Analiza numeryczna obwodów elektronicznych. Struktura obwodu. Budowa programów do analizy komputerowej.
T-W-2Analiza numeryczna w dziedzinie czasu. Rząd układu. Modele pojemności i indukcyjności liniowej. Modele innych elementów układu.
T-W-3Definicja wrażliwości. Wyznaczanie wrażliwości metodą bezpośrednią. Twierdzenie Tellegena. Zastosowanie do wyznaczenia wrażliwości prostego układu rezystancyjnego.
T-W-4Układy przyrostowe. Idea metody i jej realizacja numeryczna. Wyznaczenie wrażliwości prostego układu metodą układu przyrostowego.
T-W-5Układy dołączone w dziedzinie częstotliwości. Wybór pobudzenia układu dołączonego stosownie do zagadnienia.
T-W-6Układy dołączone w dziedzinie czasu. Przykład analizy wrażliwości w dziedzinie czasu.
T-W-7Wyznaczanie gradientu błędu kwadratowej funkcji celu metodą układu dołączonego.
T-W-8Wyznaczanie wrażliwości z postaci symbolicznej funkcji przejścia obwodu.
T-W-9Zastosowanie modeli dołączonych do analizy szumów układów elektronicznych.
T-W-10Obliczanie wrażliwości dla nieliniowych układów rezystancyjnych.
T-W-11Wykorzystanie metod optymalizacji do projektowania obwodów. Analiza wrażliwości jako źródło informacji gradientowej.
T-W-12Zadanie projektowe oparte na analizie wrażliwości. Praktyczne rozwiązywanie zadań nadokreślonych. Praktyczne aspekty zbieżności algorytmu projektowego.
T-W-13Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania układów stałoprądowych.
T-W-14Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania charakterystyk częstotliwościowych korektorów i filtrów.
T-W-15Zadania projektowe z wykorzystaniem analizy wrażliwości.
Metody nauczaniaM-1Wykład informacyjny.
Sposób ocenyS-1Ocena podsumowująca: Zaliczenie pisemne wykładu
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych.
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty kształceniaET_2A_C01_U01Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówET_2A_U10Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych oraz systemów telekomunikacyjnych.
Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaT2A_U09potrafi wykorzystać do formułowania i rozwiązywania zadań inżynierskich i prostych problemów badawczych metody analityczne, symulacyjne i eksperymentalne
T2A_U18potrafi ocenić przydatność metod i narzędzi służących do rozwiązania zadania inżynierskiego, charakterystycznego dla studiowanego kierunku studiów, w tym dostrzec ograniczenia tych metod i narzędzi; potrafi - stosując także koncepcyjnie nowe metody - rozwiązywać złożone zadania inżynierskie, charakterystyczne dla studiowanego kierunku studiów, w tym zadania nietypowe oraz zadania zawierające komponent badawczy
Cel przedmiotuC-2Zapoznanie z metodami oraz zastosowaniami analizy wrażliwości obwodów elektronicznych
Treści programoweT-L-5Projektowanie układu stałoprądowego.
T-W-12Zadanie projektowe oparte na analizie wrażliwości. Praktyczne rozwiązywanie zadań nadokreślonych. Praktyczne aspekty zbieżności algorytmu projektowego.
Metody nauczaniaM-1Wykład informacyjny.
M-2Ćwiczenia laboratoryjne - projektowanie układów elektronicznych i inne zastosowania analizy wrażliwości
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Wykonanie i zaliczenie zestawu zadań indywidualnych
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych.
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty kształceniaET_2A_C01_U02Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówET_2A_U15Potrafi wykorzystać metody sztucznej inteligencji oraz analizy wrażliwościowej w elektronice i telekomunikacji
Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaT2A_U09potrafi wykorzystać do formułowania i rozwiązywania zadań inżynierskich i prostych problemów badawczych metody analityczne, symulacyjne i eksperymentalne
Cel przedmiotuC-2Zapoznanie z metodami oraz zastosowaniami analizy wrażliwości obwodów elektronicznych
Treści programoweT-L-1Analiza numeryczna układów w dziedzinie częstotliwości i czasu.
T-L-2Analiza w dziedzinie czasu z zastosowaniem modeli indukcyjności i pojemności.
T-L-3Wyznaczanie składników wrażliwościowych w dziedzinie częstotliwości
T-L-4Użycie metod analizy wrażliwościowej do wyznaczenia szumów układu elektronicznego.
T-L-6Projektowanie charakterystyki układu korektora i filtru.
Metody nauczaniaM-2Ćwiczenia laboratoryjne - projektowanie układów elektronicznych i inne zastosowania analizy wrażliwości
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Wykonanie i zaliczenie zestawu zadań indywidualnych
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice.
3,5
4,0
4,5
5,0