Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów (S2)
Sylabus przedmiotu Mikroskopia i mikroanaliza:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
| Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Mikroskopia i mikroanaliza | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Katedra Fizykochemii Nanomateriałów | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Ewa Mijowska <Ewa.Borowiak-Palen@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | Karolina Wenelska <Karolina.Wilgosz@zut.edu.pl> | ||
| ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
| Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Podstawa wiedza o materiałach i nanomateriałach. |
| W-2 | Podstawowa wiedza o technikach badania materiałów i nanomateriałów |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zapoznanie studenta z metodami mikroskopowymi i mikroanalizy materiałów i nanomateriałów. |
| C-2 | Zdobycie umiejętności interpretacji danych uzyskanych z technik mikroskopowych i mikroanalizy o materiałach i nanomateriałach. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| ćwiczenia audytoryjne | ||
| T-A-1 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów metodą transmisyjnej mikrskopii elektronowej | 5 |
| T-A-2 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów metodą skaningowej mikrskopii elektronowej | 5 |
| T-A-3 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów metodą mikroskopii sił atomowych | 5 |
| T-A-4 | Mikroanaliza wybranych nanomateriałów z wykorzystaniem spektroskopii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego jako trybu mikroskopu TEM | 3 |
| T-A-5 | Zaliczenie | 2 |
| 20 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Mikroanaliza: - spektroskopia dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, - spektroskopia strat energii elektronów. | 4 |
| T-W-2 | Mikroskopia elektronowa: transmisyjna i skaningowa | 4 |
| T-W-3 | Zapoznanie się z podstawowymi technikami mikroskopii bliskich oddziaływań: - skaningowa mikroskopia tunelowa, - mikroskopia sił atomowych: mod statyczny oraz dynamiczny, - mikroskopia optyczna. | 5 |
| T-W-4 | Preparatyka próbek do analizy mikroskopowej | 2 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| ćwiczenia audytoryjne | ||
| A-A-1 | Uczestnictwo w zajęciach audytoryjnych | 20 |
| A-A-2 | Przygotowanie się do zaliczenia | 3 |
| A-A-3 | Konsultacje | 2 |
| A-A-4 | Praca z literaturą przedmiotu | 5 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo na wykładach | 15 |
| A-W-2 | Uczestnictwo w egzaminie | 2 |
| A-W-3 | Zapoznanie się z literaturą przedmiotu | 5 |
| A-W-4 | Konsultacje | 3 |
| A-W-5 | Przygotowanie się do egzaminu | 5 |
| 30 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Wykład informacyjny |
| M-2 | Ćwiczenia audytoryjne |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: Ocena aktywnosci na zajeciach audytoryjnych |
| S-2 | Ocena podsumowująca: Egzamin z wykładów |
| S-3 | Ocena podsumowująca: Zaliczenie z ćwiczeń audytoryjnych |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_2A_C08_W01 Wymienia i opisuje techniki mikroskopowe i metody mikroanalizy stosowane do charakterystyki materiałów i nanomateriałów. | IMiN_2A_W01 | — | — | C-1 | T-W-4, T-W-1, T-W-3, T-W-2 | M-1 | S-2 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_2A_C08_U01 Stosuje metodę do wybranego materiału i interpretuje wyniki charakterystyki materiałów i nanomateriałów otrzymanych z technik mikroskopowych oraz mikroanalizy. | IMiN_2A_U01 | — | — | C-2 | T-A-2, T-A-3, T-A-4, T-A-1 | M-2 | S-3, S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_2A_C08_W01 Wymienia i opisuje techniki mikroskopowe i metody mikroanalizy stosowane do charakterystyki materiałów i nanomateriałów. | 2,0 | |
| 3,0 | Na egzaminie pisemnym uzyskał od 50 do 65 punktów procentowych | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_2A_C08_U01 Stosuje metodę do wybranego materiału i interpretuje wyniki charakterystyki materiałów i nanomateriałów otrzymanych z technik mikroskopowych oraz mikroanalizy. | 2,0 | |
| 3,0 | Na zaliczeniu pisemnym uzyskał od 50 do 65 punktów procentowych | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- Yao, Nan; Wang, Zhong L, Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Springer, 2005