Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Zarządzanie i inżynieria produkcji (N2)
specjalność: logistyka przemysłowa
Sylabus przedmiotu Metrologia i systemy pomiarowe II:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Zarządzanie i inżynieria produkcji | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia niestacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Metrologia i systemy pomiarowe II | ||
Specjalność | inżynieria jakości | ||
Jednostka prowadząca | Środowiskowe Laboratorium Miernictwa | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Paweł Majda <Pawel.Majda@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Emilia Bachtiak-Radka <Emilia.Bachtiak-Radka@zut.edu.pl>, Marcin Chodźko <Marcin.Chodzko@zut.edu.pl>, Paweł Dunaj <Pawel-Dunaj@zut.edu.pl>, Krzysztof Filipowicz <Krzysztof.Filipowicz@zut.edu.pl>, Marek Grudziński <marek.grudzinski@zut.edu.pl>, Paweł Herbin <Pawel.Herbin@zut.edu.pl>, Eliza Jarysz-Kamińska <Eliza.Jarysz@zut.edu.pl>, Paweł Majda <Pawel.Majda@zut.edu.pl>, Tomasz Osipowicz <Tomasz.Osipowicz@zut.edu.pl>, Arkadiusz Parus <Arkadiusz.Parus@zut.edu.pl>, Bartłomiej Szymczak <bartlomiej.szymczak@zut.edu.pl>, Jacek Zapłata <Jacek.Zaplata@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 4,0 | ECTS (formy) | 4,0 |
Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Rachunek różniczkowy, algebra, liczby zespolone |
W-2 | Wiadomości z podstaw statystyki matematycznej takie jak: pojęcie zmiennej losowej, wariancji oraz odchylenia standardowego, testowanie hipotez statystycznych, szacowanie parametrów rozkładu prawdopodobieństwa. |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Zapoznanie Studentów z istotą pomiarów. Ukształtowanie umiejętności interpretacji otrzymanych wyników pomiarów i ich wizualizacji. |
C-2 | Ukształtowanie umiejętności przygotowania, doboru odpowiednich przyrządów pomiarowych, oraz przeprowadzania pomiarów. |
C-3 | Ukształtowanie umiejętności klasyfikacji błędów i ich źródeł, szacowanie niepewności pomiarów. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
ćwiczenia audytoryjne | ||
T-A-1 | Wprowadzenie do zajęć, przedstawienie planu zajęć oraz wymagań. | 1 |
T-A-2 | Wyznaczanie analityczne potencjałów węzłowych, napięć i prądów w badanych obwodach. | 1 |
T-A-3 | Analiza niepewności pomiarów | 3 |
T-A-4 | Analiza zamienności części | 5 |
10 | ||
laboratoria | ||
T-L-1 | Wzorce i przyrządy pomiarowe | 2 |
T-L-2 | Pomiary kół zębatych | 2 |
T-L-3 | Pomiary wielkości elektrycznych - środowisko MultiSim | 2 |
T-L-4 | Pomiar siły | 2 |
T-L-5 | Przetwarzanie sygnałów elektrycznych (przetworniki pomiarowe) | 2 |
10 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Wprowadzenie do metrologii i systemów pomiarowych. | 1 |
T-W-2 | Koncepcja specyfikowania geometrycznego wyrobu wg ISO, analiza zamienności części. | 6 |
T-W-3 | Analiza niepewności pomiarów (metoda typu A, metoda typu B, wielkości skorelowane) | 2 |
T-W-4 | Zasady działania, charakterystyki metrologiczne przyrządów oraz systemów pomiarowych | 1 |
10 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
ćwiczenia audytoryjne | ||
A-A-1 | Uczestnictwo w zajęciach | 10 |
A-A-2 | Praca własna | 15 |
25 | ||
laboratoria | ||
A-L-1 | Uczestnictwo w zajęciach | 10 |
A-L-2 | Praca własna | 15 |
25 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestnictwo w zajęciach | 10 |
A-W-2 | Praca własna | 40 |
50 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Wykład informacyjny |
M-2 | Wykład problemowy |
M-3 | Ćwiczenia laboratoryjne z użyciem przyrządów pomiarowych do mierzenia wielkości geometrycznych i elektrycznych. |
M-4 | Samodzielne rozwiązywanie zadań |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny |
S-2 | Ocena formująca: Ocena sprawozdań i zaliczeń z zajęć laboratoryjnych |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
ZIIP_2A_IJ/03_W01 Zapoznanie Studentów z podstawami metrologi, technik pomiarowych oraz metod szacowania niepewności pomiarów w zastosowaniach inżynierskich koniecznych do wykorzystania w dalszym procesie kształcenia oraz przyszłej pracy zawodowej. | ZIIP_2A_W01, ZIIP_2A_W04, ZIIP_2A_W03, ZIIP_2A_W02 | — | — | C-1, C-3 | T-W-3, T-W-2, T-A-1, T-A-4, T-A-3 | M-2, M-1 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
ZIIP_2A_IJ/03_U01 Student powinien umieć dobrać odpowiednie przyrządy pomiarowe, umieć posługiwać się tymi przyrządmi oraz ocenić ich praktyczną przydatność do danego zastosowania (tj. oszacować niepewność pomiaru). | ZIIP_2A_U04, ZIIP_2A_U08, ZIIP_2A_U15 | — | — | C-2, C-3 | T-L-1, T-L-3, T-L-2, T-L-4 | M-3 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - inne kompetencje społeczne i personalne
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
ZIIP_2A_IJ/03_K01 Student pozyskuje świadomość roli inżyniera we współczesnej gospodarce i społeczeństwie. | ZIIP_2A_K01 | — | — | C-2, C-3 | T-W-1, T-W-3 | M-3 | S-2 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
ZIIP_2A_IJ/03_W01 Zapoznanie Studentów z podstawami metrologi, technik pomiarowych oraz metod szacowania niepewności pomiarów w zastosowaniach inżynierskich koniecznych do wykorzystania w dalszym procesie kształcenia oraz przyszłej pracy zawodowej. | 2,0 | conajmniej 50% poprawnych odpowiedzi przewidzianych egzaminem pisemnym |
3,0 | Student zna podstawowe metrologie, techniki pomiarowe oraz metody szacowania niepewności pomiarów w zastosowaniach inżynierskich | |
3,5 | conajmniej 72,5% poprawnych odpowiedzi przewidzianych egzaminem pisemnym | |
4,0 | conajmniej 80% poprawnych odpowiedzi przewidzianych egzaminem pisemnym | |
4,5 | conajmniej 87,5% poprawnych odpowiedzi przewidzianych egzaminem pisemnym | |
5,0 | conajmniej 98% poprawnych odpowiedzi przewidzianych egzaminem pisemnym |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
ZIIP_2A_IJ/03_U01 Student powinien umieć dobrać odpowiednie przyrządy pomiarowe, umieć posługiwać się tymi przyrządmi oraz ocenić ich praktyczną przydatność do danego zastosowania (tj. oszacować niepewność pomiaru). | 2,0 | Student nie potrafi w najprostszy sposób zaprezentować wyników swoich badań. |
3,0 | Student prezentuje "suche" wyniki bez umiejętności ich efektywnej analizy. | |
3,5 | Student prezentuje wyniki z umiejętnością ich efektywnej analizy. | |
4,0 | Student nie tylko efektywnie prezentuje wyniki, ale również dokonuje ich analizy. Potrafi również prowadzić dyskusję o osiągniętych wynikach. | |
4,5 | Student potrafi efektywnie prezentować, analizować, dyskutować o osiągniętych wynikach oraz oszacować niepewność pomiarów. | |
5,0 | Student potrafi efektywnie prezentować, analizować, dyskutować o osiągniętych wynikach, a także proponować modyfikacje w układzie pomiarowym. |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
ZIIP_2A_IJ/03_K01 Student pozyskuje świadomość roli inżyniera we współczesnej gospodarce i społeczeństwie. | 2,0 | Student nie opanował podstawowej wiedzy z zakresu przedmiotu. |
3,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Jednak wykazuje braki w tej wiedzy i nie potrafi jej analizować. | |
3,5 | Student opanował wiedzę w stopniu pośrednim między oceną 3,0 a 4,0. | |
4,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Zna ograniczenia i obszary jej stosowania. | |
4,5 | Student opanował wiedzę w stopniu pośrednim między oceną 4,0 a 5,0. | |
5,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Rozumie ograniczenia i zna obszary jej stosowania. Samodzielnie i kreatywnie potrafi analizować nabytą wiedzę. |
Literatura podstawowa
- Białas S., Humienny Z., Kiszka K., Metrologia z podstawami specyfikacji geometrii wyrobów (GPS), OWPW, 2021, 2, ISBN 978-83-8156-292-8
- Jakubiec W., Malinowski J., Metrologia wielkości geometrycznych, PWN, Warszawa, 2018
- Ratajczyk E., Woźniak A., Współrzędnościowe systemy pomiarowe, OWPW, 2016
- Jakubiec W., Zator S., Majda P., Metrologia, Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa, 2014, 1, ISBN 978-83-208-2175-8
- Humienny Z., Osanna P.H., Tamre M., Weckenmann A., Jakubiec W., Specyfikacje geometrii wyrobów. Podręcznik europejski, WNT, Warszawa, 2004
- Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A., Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa, 2003
- Majda P. i inni, Instrukcje do ćwiczeń laboratoryjnych, 2022, www.pmajda.zut.edu.pl
Literatura dodatkowa
- Adamczak S., Makieła W., Metrologia w budowie maszyn, Zadania z rozwiązaniami, PWN, 2018
- Dusza J., Gąsior P. Tarapata G., Podstawy pomiarów, OWPW, 2019, ISBN: 978-83-7814-807-4
- Majda P., Wyznaczanie niepewności pomiaru, Laboratorium metrologii ITM ZUT, Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych, Szczecin, 2010, www.pmajda.zut.edu.pl
- Jezierski J., Analiza tolerancji i niedokładności pomiarów w budowie maszyn, WNT, Warszawa, 1994
- Waldemar Nawrocki, Rozproszone systemy pomiarowe, Wydawnictwo WKiŁ, Łódź, 2006, ISBN: 83-206-1600-X
- Jerzy Rydzewski, Pomiary oscyloskopowe, WNT, Warszawa, 2007, ISBN: 978-83-204-3368-5
- Piotrowski J. , Kostyrko K., Wzorcowanie aparatury pomiarowej, PWN, 2012