Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów (S2)
specjalność: Inżynieria polimerów i biomateriałów
Sylabus przedmiotu Mikroskopia i mikroanaliza:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Mikroskopia i mikroanaliza | ||
Specjalność | przedmiot wspólny | ||
Jednostka prowadząca | Katedra Fizykochemii Nanomateriałów | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Ewa Mijowska <Ewa.Borowiak-Palen@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Karolina Wenelska <Karolina.Wilgosz@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Podstawa wiedza o materiałach i nanomateriałach. |
W-2 | Podstawowa wiedza o technikach badania materiałów i nanomateriałów |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Zapoznanie studenta z metodami mikroskopowymi i mikroanalizy materiałów i nanomateriałów. |
C-2 | Zdobycie umiejętności interpretacji danych uzyskanych z technik mikroskopowych i mikroanalizy o materiałach i nanomateriałach. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
ćwiczenia audytoryjne | ||
T-A-1 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów metodą transmisyjnej mikrskopii elektronowej | 5 |
T-A-2 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów metodą skaningowej mikrskopii elektronowej | 5 |
T-A-3 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów metodą mikroskopii sił atomowych | 5 |
T-A-4 | Mikroanaliza wybranych nanomateriałów z wykorzystaniem spektroskopii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego jako trybu mikroskopu TEM | 3 |
T-A-5 | Zaliczenie | 2 |
20 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Mikroanaliza: - spektroskopia dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, - spektroskopia strat energii elektronów. | 4 |
T-W-2 | Mikroskopia elektronowa: transmisyjna i skaningowa | 4 |
T-W-3 | Zapoznanie się z podstawowymi technikami mikroskopii bliskich oddziaływań: - skaningowa mikroskopia tunelowa, - mikroskopia sił atomowych: mod statyczny oraz dynamiczny, - mikroskopia optyczna. | 5 |
T-W-4 | Preparatyka próbek do analizy mikroskopowej | 2 |
15 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
ćwiczenia audytoryjne | ||
A-A-1 | Uczestnictwo w zajęciach audytoryjnych | 20 |
A-A-2 | Przygotowanie się do zaliczenia | 3 |
A-A-3 | Konsultacje | 2 |
A-A-4 | Praca z literaturą przedmiotu | 5 |
30 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestnictwo na wykładach | 15 |
A-W-2 | Uczestnictwo w egzaminie | 2 |
A-W-3 | Zapoznanie się z literaturą przedmiotu | 5 |
A-W-4 | Konsultacje | 3 |
A-W-5 | Przygotowanie się do egzaminu | 5 |
30 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Wykład informacyjny |
M-2 | Ćwiczenia audytoryjne |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena formująca: Ocena aktywnosci na zajeciach audytoryjnych |
S-2 | Ocena podsumowująca: Egzamin z wykładów |
S-3 | Ocena podsumowująca: Zaliczenie z ćwiczeń audytoryjnych |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IMiN_2A_C08_W01 Wymienia i opisuje techniki mikroskopowe i metody mikroanalizy stosowane do charakterystyki materiałów i nanomateriałów. | IMiN_2A_W01 | — | — | C-1 | T-W-2, T-W-3, T-W-4, T-W-1 | M-1 | S-2 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IMiN_2A_C08_U01 Stosuje metodę do wybranego materiału i interpretuje wyniki charakterystyki materiałów i nanomateriałów otrzymanych z technik mikroskopowych oraz mikroanalizy. | IMiN_2A_U01 | — | — | C-2 | T-A-1, T-A-2, T-A-3, T-A-4 | M-2 | S-3, S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IMiN_2A_C08_W01 Wymienia i opisuje techniki mikroskopowe i metody mikroanalizy stosowane do charakterystyki materiałów i nanomateriałów. | 2,0 | |
3,0 | Na egzaminie pisemnym uzyskał od 50 do 65 punktów procentowych | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IMiN_2A_C08_U01 Stosuje metodę do wybranego materiału i interpretuje wyniki charakterystyki materiałów i nanomateriałów otrzymanych z technik mikroskopowych oraz mikroanalizy. | 2,0 | |
3,0 | Na zaliczeniu pisemnym uzyskał od 50 do 65 punktów procentowych | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- Yao, Nan; Wang, Zhong L, Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Springer, 2005