Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów (S1)
Sylabus przedmiotu Matematyczne podstawy opracowania wyników:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
| Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Matematyczne podstawy opracowania wyników | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Katedra Fizykochemii Nanomateriałów | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Ewa Mijowska <Ewa.Borowiak-Palen@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 1,0 | ECTS (formy) | 1,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Matematyka I i II |
| W-2 | Fizyka |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zdobycie umiejętności matematycznego opracowywania wyników eksperymentalnych otrzymanych podczas procesów wytwarzania materiałów i nanomateriałow |
| C-2 | Zdobycie umiejętności wykorzystania technik komputerowych do matematycznego opracowywania wyników związanych z inżynierią materiałów i naomateriałów |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| ćwiczenia audytoryjne | ||
| T-A-1 | Błedy i niepewności pomiarowe. | 1 |
| T-A-2 | Niepewności systematyczne (maksymalne), ocena typu B: Niepewności systematyczne pomiarów bezpośrednich, Niepewności systematyczne pomiarów pośrednich | 2 |
| T-A-3 | Niepewności przypadkowe - duże w porónaniu z systematycznymi, ocena tpu A: Niepewności przypadkowe pomiarów bezpośrednich. Rozkład Gaussa, Niepewności przypadkowe pomiarów pośrednich | 3 |
| T-A-4 | Niepwności systematyczne porównywalne z przypadkowymi. | 1 |
| T-A-5 | Metoda najmniejszych kwadratów. | 2 |
| T-A-6 | Prezentacja wyników pomiarów. | 1 |
| T-A-7 | Rysowanie wykresów: co umieścić, jak dobrać skalę, jakie informacje umieścić na wykresie | 1 |
| T-A-8 | Histogram – analiza rozrzutu wielkości materiałów i nanomateriałów na podstawie wybranych zdjęć mikroskopii elektronowej | 2 |
| T-A-9 | Zaliczenie | 2 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| ćwiczenia audytoryjne | ||
| A-A-1 | uczestnictwo w zajęciach | 15 |
| A-A-2 | Przygotowanie do zaliczenia przedmiotu | 8 |
| A-A-3 | Konsultacje z wykładowcą | 2 |
| A-A-4 | Zapoznanie się z dostepną literaturą | 5 |
| 30 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | ćwiczenia audytoryjne |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: aktywność na zajęciach |
| S-2 | Ocena podsumowująca: zaliczenie pisemne |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_1A_B06_U01 opracowuje matematycznie wyniki eksperymentów z zakresu inżynierii materiałów i nanomateriałów | IMiN_1A_U01 | — | — | C-1, C-2 | T-A-3, T-A-4, T-A-6, T-A-5, T-A-2, T-A-7, T-A-1, T-A-8 | M-1 | S-1, S-2 |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_1A_B06_U01 opracowuje matematycznie wyniki eksperymentów z zakresu inżynierii materiałów i nanomateriałów | 2,0 | |
| 3,0 | Z zaliczenia pisemnego uzyskał od 50% do 65% punktów procentowych | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- S. Brandt, Analiza danych, PWN, Warszawa, 2002
- J.R. Taylor, Wstęp do analizy błędów pomiarowych, PWN, Warszawa, 1995
- J. B. Czermiński, A. Iwasiewicz, Z. Paszek, A. Sikorski, Metody statystyczne dla chemików, PWN, Warszawa, 1992
- J. Kornacki, J. Mielniczuk, Statystyka dla studentów kierunków technicznych, WNT, Warszawa, 2006
Literatura dodatkowa
- Z. Kotulski, W. Szczepiński, Rachunek blędów dla inzynierów, WNT, Warszawa, 2004
- W.L. Winston, Analiza i modelowanie danych, APN Promise, 2005
- D. M. Bourg, Excel w nauce i technice. Receptury., Helion, 2006
- W. Ufnalski, Mądry K. Excel dla chemików i nie tylko, Excel dla chemików i nie tylko, WNP, Warszawa, 2000
- Origin- podręcznik użytkownika, Gambit, Kraków, 2004