Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów (S1)
Sylabus przedmiotu Podstawy krystalografii:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
| Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Podstawy krystalografii | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Katedra Chemii Nieorganicznej i Analitycznej | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Piotr Tabero <Piotr.Tabero@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | 7 | Grupa obieralna | 1 |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Znajomość podstaw chemii. |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zapoznanie studentów z podstawami krystalografii. |
| C-2 | Zapoznanie studentów z metodami badania substancji krystalicznych i zakresem ich stosowania. |
| C-3 | Ukształtowanie umiejętności korzystania z międzynarodowych tablic krystalograficznych i baz danych krystalograficznych. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Kryształ , krystalit, ciało polikrystaliczne, ziarno krystaliczne i monokryształ, minerał, skała. Dyfrakcja promeniowania elektromagnetycznego na siatkach dyfrakcyjnych. Poliiedry koordynacyjne. | 2 |
| T-L-2 | Rentgenowska analiza fazowa materiałów jedno- i wielofazowych. | 2 |
| T-L-3 | Ilościowa rentgenowska analiza fazowa. | 2 |
| T-L-4 | Wyznaczanie wielkości krystalitów i zniekształceń sieciowych metodą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego. | 2 |
| T-L-5 | Wskaźnikowanie dyfraktogramów proszkowych. Określenie układu krystalograficznego i typu centrowania komórki elementarnej oraz obliczanie parametrów komórki elementarnej. | 2 |
| T-L-6 | Wyznaczanie liniowych współczynników rozszerzalności termicznej metodą dyfrakcyjną. | 2 |
| T-L-7 | Udokladnianie struktury metodą Rietvelda. | 2 |
| T-L-8 | Zaliczenie pisemne laboratorium | 1 |
| 15 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Podstawowe pojęcia w krystalografii: ciało stałe, monokryształ, krystalit, kryształ, ciało polikrystaliczne. Poliedry koordynacyjne. Sieciowa budowa ciała stałego. Sieć przestrzenna i sieć krystaliczna. | 2 |
| T-W-2 | Symetria w budowie ciał stalych. Operacje i elementy symetrii. Układy krystalograficzne. Komórki Bravais'go. | 2 |
| T-W-3 | Grupy punktowe i grupy przestrzenne. Międzynarodowe tablice krystalograficzne. | 1 |
| T-W-4 | Klasyfikacja ciał krystalicznych. Niektóre typy struktur pierwiastków i związków chemicznych. | 2 |
| T-W-5 | Otrzymywanie i właściwości promieniowaniae rentgenowskiego. Zjawisko dyfrakcji. | 1 |
| T-W-6 | Metody badań ciał polikrystalicznych. Analiza jakościowa i ilościowa. Tekstura. Wskaźnikowanie dyfraktogramów. | 2 |
| T-W-7 | Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego na materiałach o różnym stopniu krystaliczności. Wyznaczanie wielkości krystalitów i zniekształceń sieciowych. | 1 |
| T-W-8 | Metoda Rietvelda. | 1 |
| T-W-9 | Dyrakcja elektronów i neutronów. | 1 |
| T-W-10 | Zaliczenie pisemne przedmotu | 2 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | Udział w zajęciach laboratoryjnych | 15 |
| A-L-2 | Opracowywanie wyników ćwiczeń laboratoryjnych w formie sprawozdań | 8 |
| A-L-3 | Przygotowanie do zaliczenia | 7 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestniczenie w wykładach | 15 |
| A-W-2 | Konsultacje | 3 |
| A-W-3 | Studiowanie literatury przedmiotu i analiza treści wykładowych | 5 |
| A-W-4 | Przygotowanie do zaliczenia przedmiotu | 7 |
| 30 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | ćwiczenia laboratoryjne |
| M-2 | wykład metoda podająca |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena podsumowująca: zaliczenie ćwiczeń |
| S-2 | Ocena podsumowująca: zaliczenie wykładu |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_1A_C38a_W01 Absolwent zna i rozumie w zaawansowanym stopniu wybrane zagadnienia dotyczące materiałów i nanomateriałów, budowa, synteza, przetwarzanie, analiza stryktury i właściwości. | IMiN_1A_W03 | — | — | C-1, C-2, C-3 | T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7, T-W-8, T-W-9 | M-2 | S-2 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_1A_C38a_U07 Absolwent potrafi ujawnić, scharakteryzować strukturę orazokreślić podstawowe właściwości materiałów oraz materiałów | IMiN_1A_U03 | — | — | C-1, C-2, C-3 | T-L-1, T-L-2, T-L-3, T-L-4, T-L-5, T-L-6, T-L-8 | M-1 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_1A_C38a_W01 Absolwent zna i rozumie w zaawansowanym stopniu wybrane zagadnienia dotyczące materiałów i nanomateriałów, budowa, synteza, przetwarzanie, analiza stryktury i właściwości. | 2,0 | |
| 3,0 | Student prezentuje podstawową wiedzę z zakresu krystalografii | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_1A_C38a_U07 Absolwent potrafi ujawnić, scharakteryzować strukturę orazokreślić podstawowe właściwości materiałów oraz materiałów | 2,0 | |
| 3,0 | Student potrafi prawidłowo zinterperatować dyfraktogram badanej substancji i wyznaczyć jej podstawowe parametry krystalograficzne | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- Trzaska-Durski Z., Trzaska-Durska H., Podstawy krystalografii strukturalnej rentgenowskiej, PWN, Warszawa, 1994, 1
- Bojarski Z., Gigla M., Stróż K., Surowiec M., Krystalografia, PWN, Warszawa, 2007, 3
- Kosturkiewicz Z., Metody krystalografii, Wydawnictwo Naukowe, Poznań, 2000, 1
- Jan Przedmojski, Rentgenowskie metody badawcze w inżynierii materiałowej, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 1990, I, ISBN 83-204-111-8
Literatura dodatkowa
- Kelly A., Groves G.W., Krystalografia i defekty kryształów, PWN, Warszawa, 1980, 1