Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Nanotechnologia (S1)
specjalność: Nanomateriały funkcjonalne
Sylabus przedmiotu Podstawy krystalografii:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Nanotechnologia | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
Obszary studiów | nauki techniczne, studia inżynierskie | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Podstawy krystalografii | ||
Specjalność | Nanomateriały funkcjonalne | ||
Jednostka prowadząca | Katedra Chemii Nieorganicznej i Analitycznej | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Elżbieta Filipek <Elzbieta.Filipek@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Monika Bosacka <Monika.Bosacka@zut.edu.pl>, Anna Błońska-Tabero <Anna.Blonska-Tabero@zut.edu.pl>, Grażyna Dąbrowska <Grazyna.Dabrowska@zut.edu.pl>, Elżbieta Filipek <Elzbieta.Filipek@zut.edu.pl>, Izabella Rychłowska-Himmel <Izabella.Rychlowska-Himmel@zut.edu.pl>, Piotr Tabero <Piotr.Tabero@zut.edu.pl>, Elżbieta Tomaszewicz <Elzbieta.Tomaszewicz@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
Blok obieralny | 4 | Grupa obieralna | 2 |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Znajomość podstaw chemii i chemii nieorganicznej. |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Zapoznanie studentów z podstawami krystalografii. |
C-2 | Zapoznanie studentów z metodami badania substancji krystalicznych i zakresem ich stosowania. |
C-3 | Ukształtowanie umiejętności korzystania z międzynarodowych tablic krystalograficznych i baz danych krystalograficznych. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | Wyznaczanie orientacji prostych i płaszczyzn sieciowych różnych sieci przestrzennych. Procedury wyboru komórki elementarnej w danej sieci przestrzennej. Określenie układu krystalograficznego i typu komórki Bravais'go. | 2 |
T-L-2 | Jakościowa identyfikacja materiałów jedno- i wielofazowych na podstawie dyfraktogramu proszkowego rtg. | 2 |
T-L-3 | Ilościowa rentgenowska analiza fazowa mieszanin dwuskładnikowych. | 2 |
T-L-4 | Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów metodą dyfrakcji promieniowania rtg. | 2 |
T-L-5 | Określenie stopnia krystaliczności wybranych do badań różnych materiałów. | 2 |
T-L-6 | Przypisywanie wskaźników Millera (hkl) płaszczyzn badanych substancji i na tej podstawie określenie układu krystalograficznego i obliczenie parametrów komórki elementarnej. | 2 |
T-L-7 | Wyznaczanie współczynników ekspansji termicznej metodą dyfrakcji promieniowania rtg. | 2 |
T-L-8 | Zaliczenie laboratorium | 1 |
15 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Podstawowe prawa i pojęcia w krystalografii: ciało stałe, monokryształ, krystalit, kryształ, ciało polikrystaliczne. Sieciowa budowa ciała stałego. Sieć przestrzenna i jej właściwości. Sieć krystaliczna. | 1 |
T-W-2 | Krystalografia geometryczna. Operacje symetrii. Makroskopowe elementy symetrii. Grupy punktowe symetrii. Układy krystalograficzne. Komórki Bravais'go. | 2 |
T-W-3 | Mikroskopowe elementy symetrii. Grupy przestrzenne. Międzynarodowe tablice krystalograficzne. | 1 |
T-W-4 | Proces krystalizacji. Metody otrzymywania monokryształów, nanokryształów i ciał polikrystalicznych. | 2 |
T-W-5 | Klasyfikacja ciał krystalicznych. Niektóre typy struktur pierwiastków i związków chemicznych. | 3 |
T-W-6 | Promieniowanie rentgenowskie, źródła, właściwości i zakres zastosowania. | 1 |
T-W-7 | Metody badań ciał polikrystalicznych. Analiza jakościowa i ilościowa. Tekstura. Wskaźnikowanie dyfraktogramów. Poszerzenie refleksów dyfrakcyjnych. Wielkość krystalitów. Zniekształcenia sieci. | 2 |
T-W-8 | Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego na materiałach o różnym stopniu krystaliczności. | 1 |
T-W-9 | Metody rentgenowskie w badaniu cienkich warstw. | 1 |
T-W-10 | Podstawy dyfrakcji elektronów i neutronów w badaniach współczenych materiałów. | 1 |
15 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | Udział w zajęciach laboratoryjnych | 15 |
A-L-2 | Opracowywanie wyników ćwiczeń laboratoryjnych w formie sprawozdań | 7 |
A-L-3 | Przygotowanie do zaliczenia | 7 |
A-L-4 | Pisemne zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych | 1 |
30 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestniczenie w wykładach | 15 |
A-W-2 | Konsultacje | 3 |
A-W-3 | Studiowanie literatury przedmiotu i analiza treści wykładowych | 3 |
A-W-4 | Przygotowanie do zaliczenia przedmiotu | 7 |
A-W-5 | Zaliczenie pisemne przedmiotu | 2 |
30 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | ćwiczenia laboratoryjne |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena podsumowująca: zaliczenie ćwiczeń |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Nano_1A_D1-07b_W10 Student ma wiedzę z zakresu podstaw krystalografii. Student ma wiedzę dotyczącą badania substancji krystalicznych | Nano_1A_W10 | — | — | C-2, C-1, C-3 | T-W-2, T-W-3, T-W-4, T-W-1, T-W-6, T-W-7, T-W-8, T-W-9, T-W-5, T-W-10 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Nano_1A_D1-07b_U01 student potrafi zastosować poznane na ćwiczeniach laboratoryjnych metody badania substancji skrystalicznych | Nano_1A_U01 | — | — | C-2, C-1, C-3 | T-L-1, T-L-2, T-L-3, T-L-4, T-L-5, T-L-6, T-L-7, T-L-8 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Nano_1A_D1-07b_K03 student potrafi pracować w zespole | Nano_1A_K03 | — | — | C-2, C-3 | T-L-1, T-L-2, T-L-3, T-L-4, T-L-5, T-L-6, T-L-7, T-L-8 | M-1 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
Nano_1A_D1-07b_W10 Student ma wiedzę z zakresu podstaw krystalografii. Student ma wiedzę dotyczącą badania substancji krystalicznych | 2,0 | |
3,0 | Student prezentuje podstawową wiedzę z zakresu krystalografii | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
Nano_1A_D1-07b_U01 student potrafi zastosować poznane na ćwiczeniach laboratoryjnych metody badania substancji skrystalicznych | 2,0 | |
3,0 | Student potrafi prawidłowo zinterperatować dyfraktogram badanej substancji i wyznaczyć jej podstawowe parametry krystalograficzne | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
Nano_1A_D1-07b_K03 student potrafi pracować w zespole | 2,0 | |
3,0 | student wykonał wszystkie przewidziane programem ćwiczenia, przedstawił odpowiednie sprawozdania i posiadł podstawową wiedzę z podstaw krystalografii | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- Trzaska-Durski Z., Trzaska-Durska H., Podstawy krystalografii strukturalnej rentgenowskiej, PWN, Warszawa, 1994, 1
- Bojarski Z., Gigla M., Stróż K., Surowiec M., Krystalografia, PWN, Warszawa, 2007, 3
- Kosturkiewicz Z., Metody krystalografii, Wydawnictwo Naukowe, Poznań, 2000, 1
Literatura dodatkowa
- Kelly A., Groves G.W., Krystalografia i defekty kryształów, PWN, Warszawa, 1980, 1