Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria chemiczna i procesowa (S1)
Sylabus przedmiotu Pomiary przemysłowe:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Inżynieria chemiczna i procesowa | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
| Obszary studiów | nauk technicznych, studiów inżynierskich | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Pomiary przemysłowe | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Instytut Inżynierii Chemicznej i Procesów Ochrony Środowiska | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Joanna Karcz <Joanna.Karcz@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Podstawy aparatury procesowej |
| W-2 | Podstawy inżynierii procesowej |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zapoznanie studentów z podstawową wiedzą w zakresie pomiarów przemysłowych |
| C-2 | Zapoznanie studentów z rodzajami urządzeń pomiarowych |
| C-3 | Ukształtowanie umiejętności doboru metody pomiaru i urządzeń pomiarowych |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| wykłady | ||
| T-W-1 | Ogólne wiadomości o pomiarach. Metrologia i jej podział. Błędy pomiarów. Ogólna charakterystyka cyfrowych przyrządów pomiarowych. | 2 |
| T-W-2 | Pomiary długości i kąta. Suwmiarki. Mikrometry. Kątowniki | 2 |
| T-W-3 | Pomiary masy. Wagi | 1 |
| T-W-4 | Pomiary ciśnienia. Manometry | 2 |
| T-W-5 | Pomiary poziomu cieczy w zbiornikach. Poziomomierze | 1 |
| T-W-6 | Pomiary temperatury. Metody elektryczne pomiaru temperatury | 2 |
| T-W-7 | Pomiary natężenia przepływu płynów. Przepływomierze | 2 |
| T-W-8 | Pomiary gęstości i lepkości płynów. Przyrządy do pomiarów gęstości i lepkości | 2 |
| T-W-9 | Pomiary stężenia roztworów. Kontrola składu mieszanin gazowych. Analizatory gazów. Pomiary pH. | 3 |
| T-W-10 | I kolokwium | 2 |
| T-W-11 | Pomiary wilgotności gazów i ciał stałych | 3 |
| T-W-12 | Obiekty regulacji. Przetworniki. Rejestratory. | 2 |
| T-W-13 | Układy regulacji automatycznej. Układy regulacji przekaźnikowej. Monitorowanie procesu przemysłowego | 2 |
| T-W-14 | Mikroprocesorowe systemy pomiarowe. Mikroprocesorowe systemy automatyki. Komputerowe wspomaganie pomiarów przemysłowych | 2 |
| T-W-15 | II kolokwium | 2 |
| 30 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| wykłady | ||
| A-W-1 | uczestnictwo w zajęciach | 30 |
| A-W-2 | studiowanie wskazanej literatury | 15 |
| A-W-3 | przygotowanie do kolokwiów | 10 |
| A-W-4 | praktyczne pomiary wymiarów wybranych elementów mechanicznych | 3 |
| A-W-5 | udział w konsultacjach | 2 |
| 60 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Metoda podająca: wykład informacyjny |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: zaliczenie partii materiału na podstawie pozytywnej oceny pisemnego kolokwium |
| S-2 | Ocena podsumowująca: zaliczenie przedmiotu na podstawie pozytywnych ocen z dwóch kolokwium |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ICHP_1A_C22_W12 student ma szczegółową wiedzę związaną z tematyką pomiarów przemysłowych | ICHP_1A_W12 | T1A_W04 | — | C-1, C-2 | T-W-1, T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-8, T-W-9, T-W-11, T-W-3 | M-1 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ICHP_1A_C22_U08 student potrafi planować pomiary i wyciągać wnioski | ICHP_1A_U08 | T1A_U08 | InzA_U01 | C-3 | T-W-4, T-W-6, T-W-7, T-W-8, T-W-2 | M-1 | S-1 |
| ICHP_1A_C22_U14 student potrafi wykorzystać nabytą wiedzę do krytycznej oceny metod i urządzeń pomiarowych | ICHP_1A_U14 | T1A_U13 | InzA_U05 | C-1, C-3, C-2 | T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7, T-W-2, T-W-14 | M-1 | S-1 |
| ICHP_1A_C22_U15 student potrafi dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych w zakresie inżynierii procesowej | ICHP_1A_U15 | T1A_U14 | InzA_U06 | C-3 | T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7, T-W-8, T-W-9, T-W-2, T-W-11 | M-1 | S-1 |
| ICHP_1A_C22_U16 student potrafi ocenić przydatność rutynowych metod stosowanych do pomiarów przemysłowych w zakresie inżynierii procesowej | ICHP_1A_U16 | T1A_U15 | InzA_U07 | C-1, C-3, C-2 | T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7, T-W-11, T-W-14 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ICHP_1A_C22_K01 student rozumie potrzebę dokształcania się w zakresie różnych technik pomiarowych stosowanych w inżynierii procesowej | ICHP_1A_K01 | T1A_K01 | — | C-1, C-3, C-2 | T-W-1, T-W-12, T-W-13, T-W-14 | M-1 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ICHP_1A_C22_W12 student ma szczegółową wiedzę związaną z tematyką pomiarów przemysłowych | 2,0 | student nie ma szczegółowej wiedzy na temat pomiarów przemysłowych |
| 3,0 | student potrafi scharakteryzować podstawowe metody i urządzenia pomiarowe w zakresie inżynierii procesowej | |
| 3,5 | student potrafi scharakteryzować różne metody i urządzenia pomiarowe w zakresie inżynierii procesowej | |
| 4,0 | student potrafi scharakteryzować wiele metod i urządzeń pomiarowych w zakresie inżynierii procesowej | |
| 4,5 | student potrafi scharakteryzować i porównać wiele metod i urządzeń pomiarowych w zakresie inżynierii procesowej | |
| 5,0 | student potrafi scharakteryzować i krytycznie ocenić wiele metod i urządzeń pomiarowych w zakresie inżynierii procesowej |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ICHP_1A_C22_U08 student potrafi planować pomiary i wyciągać wnioski | 2,0 | student nie potrafi planować pomiarów i formułować wniosków |
| 3,0 | student potrafi w stopniu podstawowym planować pomiary i formułować wnioski | |
| 3,5 | student potrafi w stopniu wiecej niż podstawowym planować pomiary i formułować wnioski | |
| 4,0 | student potrafi planować pomiary, uzasadnić wybór metody pomiarowej i formułować wnioski | |
| 4,5 | student potrafi planować pomiary, obszernie uzasadnić wybór metody pomiarowej i formułować wnioski | |
| 5,0 | student potrafi planować pomiary, obszernie uzasadnić wybór metody pomiarowej i wyczerpująco formułować wnioski | |
| ICHP_1A_C22_U14 student potrafi wykorzystać nabytą wiedzę do krytycznej oceny metod i urządzeń pomiarowych | 2,0 | student nie potrafi wykorzystać nabytej wiedzy do oceny metod i urządzeń pomiarowych |
| 3,0 | student potrafi w stopniu podstawowym wykorzystać nabytą wiedzę do oceny metod i urządzeń pomiarowych | |
| 3,5 | student potrafi w stopniu więcej niż podstawowym wykorzystać nabytą wiedzę do oceny metod i urządzeń pomiarowych | |
| 4,0 | student potrafi w szerokim stopniu wykorzystać nabytą wiedzę do oceny metod i urządzeń pomiarowych | |
| 4,5 | student potrafi w szerokim stopniu wykorzystać nabytą wiedzę do krytycznej oceny metod i urządzeń pomiarowych | |
| 5,0 | student potrafi w szerokim stopniu wykorzystać nabytą wiedzę do krytycznej oceny wielu metod i urządzeń pomiarowych | |
| ICHP_1A_C22_U15 student potrafi dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych w zakresie inżynierii procesowej | 2,0 | student nie potrafi dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych |
| 3,0 | student potrafi w stopniu podstawowym dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych | |
| 3,5 | student potrafi w stopniu więcej niż podstawowym dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych | |
| 4,0 | student potrafi w szerokim stopniu dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych | |
| 4,5 | student potrafi dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych i uzasadnić ich wybór | |
| 5,0 | student potrafi dokonać doboru metod i urządzeń pomiarowych i wyczerpująco ich uzasadnić wybór | |
| ICHP_1A_C22_U16 student potrafi ocenić przydatność rutynowych metod stosowanych do pomiarów przemysłowych w zakresie inżynierii procesowej | 2,0 | student nie potrafi ocenić przydatności rutynowych metod stosowanych w pomiarach przemysłowych |
| 3,0 | student potrafi w stopniu podstawowym ocenić przydatność rutynowych metod stosowanych w pomiarach przemysłowych | |
| 3,5 | student potrafi w stopniu więcej niż podstawowym ocenić przydatność rutynowych metod stosowanych w pomiarach przemysłowych | |
| 4,0 | student potrafi w szerokim stopniu ocenić przydatność rutynowych metod stosowanych w pomiarach przemysłowych | |
| 4,5 | student potrafi krytycznie ocenić przydatność rutynowych metod stosowanych w pomiarach przemysłowych | |
| 5,0 | student potrafi krytycznie ocenić i zinterpretować przydatność rutynowych metod stosowanych w pomiarach przemysłowych |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ICHP_1A_C22_K01 student rozumie potrzebę dokształcania się w zakresie różnych technik pomiarowych stosowanych w inżynierii procesowej | 2,0 | student nie rozumie potrzeby dokształcania się w zakresie różnych technik pomiarowych |
| 3,0 | student rozumie w stopniu podstawowym potrzebę dokształcania się w zakresie różnych technik pomiarowych | |
| 3,5 | student rozumie w stopniu więcej niż podstawowym potrzebę dokształcania się w zakresie różnych technik pomiarowych | |
| 4,0 | student rozumie w szerokim stopniu potrzebę dokształcania się w zakresie różnych technik pomiarowych | |
| 4,5 | student rozumie w szerokim stopniu potrzebę dokształcania się w zakresie wielu różnych technik pomiarowych | |
| 5,0 | student rozumie w szerokim stopniu potrzebę dokształcania się w zakresie wielu różnych technik i metod pomiarowych |
Literatura podstawowa
- Praca zbiorowa pod red. J. Barzykowskiego, Współczesna metrologia, WNT, Warszawa, 2004, ISBN 978-83-204-3353-1
- Jakubiec W., Malinowski J., Metrologia wielkości geometrycznych, WNT, Warszawa, 1999
- Praca zbiorowa pod red. T.R. Fodemskiego, Pomiary cieplne, część I, WNT, Warszawa, 2001, ISBN 83-204-2579-4
- Piekarski M., Poniewski M., Dynamika i sterowanie procesami wymiany ciepła i masy., WNT, Warszawa, 1994
- Biernacki Z., Sensory i systemy termoanemometryczne, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa, 1997
- Michalski A., Pomiary przepływu wody w kanałach otwartych, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2004
- Stabrowski M.M., Cyfrowe przyrządy pomiarowe, PWN, Warszawa, 2002
- Trybalski Z., Zasady automatyki, informatyki i inżynierii systemów dla chemików, PWN, Warszawa, 1990
- Tuszyński K., Walewski M., Regulacja automatyczna w inżynierii chemicznej, WNT, Warszawa, 1983
- Dziubiński M., Kiljański T., Sęk J., Podstawy reologii i reometrii płynów, Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, Łódź, 2011
Literatura dodatkowa
- Kiljański T., Dziubiński M., Sęk J., Antosik K., Wykorzystanie pomiarów właściwości reologicznych płynów w praktyce inżynierskiej, Wydawca EKMA Krzysztof Antosik, Warszawa, 2009
- Kułakow M.W., Pomiary technologiczne i aparatura kontrolno-pomiarowa w przemyśle chemicznym, WNT, Warszawa, 1972
- Ray W.H., Advanced process control, McGraw-Hill Book Comp., New York, 1981
- Hengstenberg J., Sturm B., Winkler O., Messen, Steuern und Regeln in der Chemischen technik. Band I-IV, Springer-Verlag, Berlin, 1980