Wydział Elektryczny - Elektronika i Telekomunikacja (N2)
Sylabus przedmiotu Analiza wrażliwościowa układów analogowych:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Elektronika i Telekomunikacja | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia niestacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
| Obszary studiów | nauk technicznych | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Analiza wrażliwościowa układów analogowych | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Katedra Elektrotechnologii i Diagnostyki | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Konstanty Gawrylczyk <Konstanty.Gawrylczyk@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 4,0 | ECTS (formy) | 4,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Znajomość podstaw informatyki |
| W-2 | Znajomość teorii obwodów elektrycznych i elektronicznych |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Opanowanie numerycznych metod analizy obwodów elektronicznych |
| C-2 | Zapoznanie z metodami oraz zastosowaniami analizy wrażliwości obwodów elektronicznych |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Analiza numeryczna układów w dziedzinie częstotliwości i czasu. | 4 |
| T-L-2 | Analiza w dziedzinie czasu z zastosowaniem modeli indukcyjności i pojemności. | 4 |
| T-L-3 | Wyznaczanie składników wrażliwościowych w dziedzinie częstotliwości | 4 |
| T-L-4 | Użycie metod analizy wrażliwościowej do wyznaczenia szumów układu elektronicznego. | 1 |
| T-L-5 | Projektowanie układu stałoprądowego. | 3 |
| T-L-6 | Projektowanie charakterystyki układu korektora i filtru. | 4 |
| 20 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Analiza numeryczna obwodów elektronicznych. Struktura obwodu. Budowa programów do analizy komputerowej. | 1 |
| T-W-2 | Analiza numeryczna w dziedzinie czasu. Rząd układu. Modele pojemności i indukcyjności liniowej. Modele innych elementów układu. | 1 |
| T-W-3 | Definicja wrażliwości. Wyznaczanie wrażliwości metodą bezpośrednią. Twierdzenie Tellegena. Zastosowanie do wyznaczenia wrażliwości prostego układu rezystancyjnego. | 1 |
| T-W-4 | Układy przyrostowe. Idea metody i jej realizacja numeryczna. Wyznaczenie wrażliwości prostego układu metodą układu przyrostowego. | 1 |
| T-W-5 | Układy dołączone w dziedzinie częstotliwości. Wybór pobudzenia układu dołączonego stosownie do zagadnienia. | 1 |
| T-W-6 | Układy dołączone w dziedzinie czasu. Przykład analizy wrażliwości w dziedzinie czasu. | 1 |
| T-W-7 | Wyznaczanie gradientu błędu kwadratowej funkcji celu metodą układu dołączonego. | 1 |
| T-W-8 | Wyznaczanie wrażliwości z postaci symbolicznej funkcji przejścia obwodu. | 2 |
| T-W-9 | Zastosowanie modeli dołączonych do analizy szumów układów elektronicznych. | 2 |
| T-W-10 | Obliczanie wrażliwości dla nieliniowych układów rezystancyjnych. | 2 |
| T-W-11 | Wykorzystanie metod optymalizacji do projektowania obwodów. Analiza wrażliwości jako źródło informacji gradientowej. | 2 |
| T-W-12 | Zadanie projektowe oparte na analizie wrażliwości. Praktyczne rozwiązywanie zadań nadokreślonych. Praktyczne aspekty zbieżności algorytmu projektowego. | 2 |
| T-W-13 | Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania układów stałoprądowych. | 1 |
| T-W-14 | Przykłady zastosowań analizy wrażliwości do projektowania charakterystyk częstotliwościowych korektorów i filtrów. | 1 |
| T-W-15 | Zadania projektowe z wykorzystaniem analizy wrażliwości. | 1 |
| 20 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | Wykonanie indywidualnych zadań przewidzianych w treściach programowych | 20 |
| A-L-2 | Samodzielne przygotowanie do laboratorium i opracowanie sprawozdań | 40 |
| 60 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo w wykładzie | 20 |
| A-W-2 | Utrwalenie i pogłębienie wiadomości | 30 |
| A-W-3 | Przygotowanie do zaliczenia | 10 |
| 60 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Wykład informacyjny. |
| M-2 | Ćwiczenia laboratoryjne - projektowanie układów elektronicznych i inne zastosowania analizy wrażliwości |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena podsumowująca: Zaliczenie pisemne wykładu |
| S-2 | Ocena formująca: Wykonanie i zaliczenie zestawu zadań indywidualnych |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ET_2A_C01_W01 Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych | ET_2A_W06 | T2A_W03, T2A_W07 | C-1, C-2 | T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7, T-W-8, T-W-9, T-W-10, T-W-11, T-W-12, T-W-13, T-W-14, T-W-15 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ET_2A_C01_U01 Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych | ET_2A_U10 | T2A_U09, T2A_U18 | C-2 | T-L-5, T-W-12 | M-1, M-2 | S-2 |
| ET_2A_C01_U02 Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice | ET_2A_U15 | T2A_U09 | C-2 | T-L-1, T-L-2, T-L-3, T-L-4, T-L-6 | M-2 | S-2 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ET_2A_C01_W01 Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych | 2,0 | |
| 3,0 | Ma uporządkowaną wiedzę w zakresie struktur, analizy, symulacji oraz projektowania układów elektronicznych. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ET_2A_C01_U01 Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych | 2,0 | |
| 3,0 | Potrafi zaplanować proces testowania złożonych układów elektronicznych. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 | ||
| ET_2A_C01_U02 Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice | 2,0 | |
| 3,0 | Potrafi wykorzystać metody analizy wrażliwościowej w elektronice. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- Białko M., Analiza układów elektronicznych wspomagana mikrokomputerem, WNT, Warszawa, 1989
- Chua L. O.. Lin P. M., Komputerowa analiza układów elektronicznych, WNT, Warszawa, 1981
Literatura dodatkowa
- K.M.Gawryllczyk, Strony www kmg.zut.edu.pl, ZUT, Szczecin, 2012