Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów (S1)
Sylabus przedmiotu Technologia cienkich warstw:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Technologia cienkich warstw | ||
Specjalność | przedmiot wspólny | ||
Jednostka prowadząca | Katedra Technologii Chemicznej Nieorganicznej i Inżynierii Środowiska | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Dariusz Moszyński <Dariusz.Moszynski@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | |||
ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
Blok obieralny | 3 | Grupa obieralna | 1 |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | brak |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Poznanie technik otrzymywania cienkich warstw z materiałów organicznych i nieorganicznych oraz metod pomiaru grubości i analizy morfologii ich powierzchni. |
C-2 | Zapoznanie studentów z aparaturą pomiarową i preparacyjną stosowaną przy otrzymywaniu cienkich warstw |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | Otrzymywanie cienkich warstw metalicznych metodą napylania jarzeniowego. | 3 |
T-L-2 | Proces pasywacji do wytwarzania cienkich warstw na różnych metalach | 3 |
T-L-3 | Preparatyka cienkich warstw metodą CVD | 3 |
T-L-4 | Badania cienkich warstw metodą spektroskopii elektronowych | 3 |
T-L-5 | Określenie degradacji cienkich warstw metodą XPS | 3 |
15 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Metody otrzymywania cienkich warstw z materiałów nieorganicznych, organicznych i metali. | 6 |
T-W-2 | Naparowywanie próżniowe. | 2 |
T-W-3 | Procesy wyładowania jarzeniowego. | 2 |
T-W-4 | Procesy chemiczne z fazy gazowej. | 4 |
T-W-5 | Procesy chemiczne z fazy ciekłej. | 4 |
T-W-6 | Kryteria wyboru odpowiedniej techniki do specyficznych zastosowań. | 4 |
T-W-7 | Przegląd metod pomiarowych grubości oraz kontroli morfologii powierzchni cienkich warstw. | 8 |
30 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | uczestnictwo w zajęciach | 15 |
A-L-2 | Przygotowywanie raportów | 10 |
A-L-3 | Studiowanie literatury | 5 |
30 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | uczestnictwo w zajęciach | 30 |
A-W-2 | Konsultacje z prowadzącym | 4 |
A-W-3 | Przygotowanie do egzaminu | 20 |
A-W-4 | Studiowanie literatury | 4 |
A-W-5 | Egazamin | 2 |
60 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Wykład informacyjny |
M-2 | Metoda przypadków |
M-3 | Ćwiczenia laboratoryjne |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena podsumowująca: egzamin |
S-2 | Ocena podsumowująca: Ocena sprawozdania |
S-3 | Ocena formująca: ocena aktywności podczas ćwiczeń |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IMiN_1A_C34a_W01 Student ma wiedzę z zakresu budowy materii oraz mechanizmów procesów chemicznych i ich wykorzystania przy wytwarzaniu nowoczesnych materiałów w postaci cienkich warstw. | IMiN_1A_W03 | — | — | C-1 | T-W-1, T-W-2, T-W-3 | M-1, M-2 | S-1 |
IMiN_1A_C34a_W02 Student zna zasady funkcjonowania i użytkowania aparatury, urządzeń i systemów wykorzystujących metody technologii cienkich warstw | IMiN_1A_W03 | — | — | C-2 | T-W-4, T-W-5, T-W-6, T-W-7 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IMiN_1A_C34a_U01 Student potrafi zaplanować procesy technologiczne oraz wykorzystywać eksperymentalne i teoretyczne metody w zakresie technologii otrzymywania cienkich warstw. | IMiN_1A_U08 | — | — | C-1 | T-L-1, T-L-2, T-L-3 | M-3 | S-2, S-3 |
IMiN_1A_C34a_U02 Absolwent potrafi scharakteryzować strukturę oraz określić podstawowe właściwości materiałów wykonanych metodami cienkowarstowymi | IMiN_1A_U07 | — | — | C-2 | T-L-4, T-L-5 | M-3 | S-2, S-3 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IMiN_1A_C34a_W01 Student ma wiedzę z zakresu budowy materii oraz mechanizmów procesów chemicznych i ich wykorzystania przy wytwarzaniu nowoczesnych materiałów w postaci cienkich warstw. | 2,0 | |
3,0 | Student ma wiedzę na temat metod otrzymywania cienkich warstw z materiałów nieorganicznych, organicznych i metali. Wiedza ta w odniesieniu do treści programowych przedmiotu jest w przedziale [60%, 65%] | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 | ||
IMiN_1A_C34a_W02 Student zna zasady funkcjonowania i użytkowania aparatury, urządzeń i systemów wykorzystujących metody technologii cienkich warstw | 2,0 | |
3,0 | Student ma wiedzę na temat aparatury i urządzeń do otrzymywania cienkich warstw z materiałów nieorganicznych, organicznych i metali. Wiedza ta w odniesieniu do treści programowych przedmiotu jest w przedziale [60%, 65%] | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IMiN_1A_C34a_U01 Student potrafi zaplanować procesy technologiczne oraz wykorzystywać eksperymentalne i teoretyczne metody w zakresie technologii otrzymywania cienkich warstw. | 2,0 | |
3,0 | Student posiada umiejętności związane z metodami otrzymywania cienkich warstw z materiałów nieorganicznych, organicznych i metali. Umiejętności te w odniesieniu do treści programowych przedmiotu są w przedziale [60%, 65%] | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 | ||
IMiN_1A_C34a_U02 Absolwent potrafi scharakteryzować strukturę oraz określić podstawowe właściwości materiałów wykonanych metodami cienkowarstowymi | 2,0 | |
3,0 | Student posiada umiejętności związane z metodami charakteryzacji cienkich warstw z materiałów nieorganicznych, organicznych i metali. Umiejętności te w odniesieniu do treści programowych przedmiotu są w przedziale [60%, 65%] | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- Anna Zawadzka, Cienkie warstwy i nanostruktury cienkowarstwowe eksperymentalne metody wytwarzania i badania właściwości, Wydawnictwo Naukowe UMK, Toruń, 2016
- Andrzej Cygański, Metody spektroskopowe w chemii analitycznej, Wydawnictwo WNT, Warszawa, 2014