Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie

Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Zarządzanie i inżynieria produkcji (S1)

Sylabus przedmiotu Statystyczna kontrola procesów produkcyjnych:

Informacje podstawowe

Kierunek studiów Zarządzanie i inżynieria produkcji
Forma studiów studia stacjonarne Poziom pierwszego stopnia
Tytuł zawodowy absolwenta inżynier
Obszary studiów charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK
Profil ogólnoakademicki
Moduł
Przedmiot Statystyczna kontrola procesów produkcyjnych
Specjalność przedmiot wspólny
Jednostka prowadząca Katedra Technologii Wytwarzania
Nauczyciel odpowiedzialny Daniel Grochała <Daniel.Grochala@zut.edu.pl>
Inni nauczyciele
ECTS (planowane) 3,0 ECTS (formy) 3,0
Forma zaliczenia zaliczenie Język polski
Blok obieralny Grupa obieralna

Formy dydaktyczne

Forma dydaktycznaKODSemestrGodzinyECTSWagaZaliczenie
wykładyW5 30 2,00,50zaliczenie
projektyP5 15 1,00,50zaliczenie

Wymagania wstępne

KODWymaganie wstępne
W-1Znajomość procesów i technik wytwarzania, znajomość statystyki matematycznej, podstwy miernictwa warsztatowego.

Cele przedmiotu

KODCel modułu/przedmiotu
C-1Zapoznanie zasadami statystycznego sterowania procesami kontroli procesów produkcji wyrobów (oceny dostawców).
C-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
C-4Ukształtowanie umiejętności ciągłego rozwoju systemó jakości opartych o wykorzystanie kontroli statystycznej.

Treści programowe z podziałem na formy zajęć

KODTreść programowaGodziny
projekty
T-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.14
T-P-2Zaliczenie1
15
wykłady
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.29
T-W-2Zaliczenie1
30

Obciążenie pracą studenta - formy aktywności

KODForma aktywnościGodziny
projekty
A-P-1uczestnictwo w zajęciach15
A-P-2praca własna studenta10
25
wykłady
A-W-1uczestnictwo w zajęciach30
A-W-2Wkład własny studenta20
50

Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne

KODMetoda nauczania / narzędzie dydaktyczne
M-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).

Sposoby oceny

KODSposób oceny
S-1Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny obejmujący zakres tematyczny wykładów i sprawdzający uzyskane efekty kształcenia.
S-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń

Zamierzone efekty uczenia się - wiedza

Zamierzone efekty uczenia sięOdniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówOdniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaOdniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżynieraCel przedmiotuTreści programoweMetody nauczaniaSposób oceny
ZIIP_1A_IJZ/23_W01
Ma podstawową wiedzę na temat projektowania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
ZIIP_1A_W06C-1, C-2T-P-1, T-W-1M-1S-1, S-2
ZIIP_1A_IJZ/23_W02
Student ma podstawową wiedzę jak walidować zdolność elementów statystycznego systemu kontroli produkcji (dostawców)
ZIIP_1A_W10C-2, C-3T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-2, S-3
ZIIP_1A_IJZ/23_W03
Student powinien być w stanie objaśniać i tłumaczyć zasady statystycznego sterowania procesami produkcji (oceny dostawców)
ZIIP_1A_W03C-2, C-3T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-1, S-2
ZIIP_1A_IJZ/23_W04
Student powinien być w stanie zaproponować metody doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną (być w stanie zdefiniować zasady rozwoju dostawców)
ZIIP_1A_W16C-3, C-4T-P-1M-2S-2, S-3

Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności

Zamierzone efekty uczenia sięOdniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówOdniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaOdniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżynieraCel przedmiotuTreści programoweMetody nauczaniaSposób oceny
ZIIP_1A_IJZ/23_U01
Ma umiejętności projektowania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
ZIIP_1A_U06C-1, C-2T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-1, S-2, S-3
ZIIP_1A_IJZ/23_U02
Student ma podstawowe umiejętności w zakresie walidacji zdolności elementów statystycznego systemu kontroli produkcji (dostawców)
ZIIP_1A_U16C-1, C-2, C-3T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-1, S-2
ZIIP_1A_IJZ/23_U03
Student powinien potrafić wdrożyć w przedsiębiorstwie zasady statystycznego sterowania procesami produkcji (oceny dostawców)
ZIIP_1A_U22C-2, C-3, C-4T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-2, S-3
ZIIP_1A_IJZ/23_U04
Student potrafi zaproponować logiczne rozwiązania w zakresie doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną
ZIIP_1A_U26C-3, C-4T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-2, S-3

Zamierzone efekty uczenia się - inne kompetencje społeczne i personalne

Zamierzone efekty uczenia sięOdniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówOdniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształceniaOdniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżynieraCel przedmiotuTreści programoweMetody nauczaniaSposób oceny
ZIIP_1A_IJZ/23_K01
Wyniku zrealizowanych zajęć winien chętnie podchodzić do wdrażania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (mieć świadomość statystycznej oceny dostawców)
ZIIP_1A_K03C-1, C-2, C-3T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-1, S-2
ZIIP_1A_IJZ/23_K02
Student powinien być zdeterminowany do ciągłego doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną (mieć świadomość potrzeby ciągłego rozwoju dostawców)
ZIIP_1A_K01C-2, C-3, C-4T-P-1, T-W-1M-1, M-2S-2, S-3

Kryterium oceny - wiedza

Efekt uczenia sięOcenaKryterium oceny
ZIIP_1A_IJZ/23_W01
Ma podstawową wiedzę na temat projektowania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
ZIIP_1A_IJZ/23_W02
Student ma podstawową wiedzę jak walidować zdolność elementów statystycznego systemu kontroli produkcji (dostawców)
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
ZIIP_1A_IJZ/23_W03
Student powinien być w stanie objaśniać i tłumaczyć zasady statystycznego sterowania procesami produkcji (oceny dostawców)
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
ZIIP_1A_IJZ/23_W04
Student powinien być w stanie zaproponować metody doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną (być w stanie zdefiniować zasady rozwoju dostawców)
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.

Kryterium oceny - umiejętności

Efekt uczenia sięOcenaKryterium oceny
ZIIP_1A_IJZ/23_U01
Ma umiejętności projektowania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
ZIIP_1A_IJZ/23_U02
Student ma podstawowe umiejętności w zakresie walidacji zdolności elementów statystycznego systemu kontroli produkcji (dostawców)
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
ZIIP_1A_IJZ/23_U03
Student powinien potrafić wdrożyć w przedsiębiorstwie zasady statystycznego sterowania procesami produkcji (oceny dostawców)
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
ZIIP_1A_IJZ/23_U04
Student potrafi zaproponować logiczne rozwiązania w zakresie doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0

Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne

Efekt uczenia sięOcenaKryterium oceny
ZIIP_1A_IJZ/23_K01
Wyniku zrealizowanych zajęć winien chętnie podchodzić do wdrażania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (mieć świadomość statystycznej oceny dostawców)
2,0
3,0Student potrafi zaprezentować i przeanalizować wyniki otrzymane po w skutek stosowania statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
ZIIP_1A_IJZ/23_K02
Student powinien być zdeterminowany do ciągłego doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną (mieć świadomość potrzeby ciągłego rozwoju dostawców)
2,0
3,0Student potrafi zaprezentować i przeanalizować wyniki otrzymane po w skutek stosowania statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0

Literatura podstawowa

  1. Montgomery D.C., Introduction to Statistical Quality Control, John Wiley & Sons, Inc., USA, 2009, 6
  2. Kończak G., Metody statystyczne w sterowaniu jakością produkcji, Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej w Katowicach, Katowice, 2009, 2
  3. Blikle A.J., DOKTRYNA JAKOŚCI Rzecz o skutecznym zarządzaniu, Copyright by Andrzej Blikle, Warszawa, 2014, Książka in statu nascendi udostępniana w kolejnych edycjach w domenie publicznej https://www.moznainaczej.com.pl/
  4. Płaska S., Wprowadzenie do statystycznego sterowania procesami technologicznymi, WLP, Lublin, 2000
  5. Czyżewski B., Metody statystyczne w sterowaniu jakością procesów technologicznych, Wielkopolski Klub Jakości FSNT NOT, Poznań, 2009
  6. Sałaciński T., SPC statystyczne sterowanie procesami produkcji, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2009
  7. Hryniewicz O., Nowoczesne metody statystycznego sterowania jakością, Exit, Warszawa, 2006
  8. Dietrich E., Schulze A., Metody statystyczne w kwalifikacji środków pomiarowych maszyn i procesów produkcyjnych, Notika System, Warszawa, 2000
  9. Hamrol A., Zarządzanie jakością z przykładami, PWN, Warszawa, 2007
  10. Iwasiewicz A., Zarządzanie jakością. Podstawowe problemy i metody, PWN, Warszawa, 1999

Literatura dodatkowa

  1. Zięba A., Analiza danych w naukach ścisłych i technice, PWN, Warszawa, 2013

Treści programowe - projekty

KODTreść programowaGodziny
T-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.14
T-P-2Zaliczenie1
15

Treści programowe - wykłady

KODTreść programowaGodziny
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.29
T-W-2Zaliczenie1
30

Formy aktywności - projekty

KODForma aktywnościGodziny
A-P-1uczestnictwo w zajęciach15
A-P-2praca własna studenta10
25
(*) 1 punkt ECTS, odpowiada około 30 godzinom aktywności studenta

Formy aktywności - wykłady

KODForma aktywnościGodziny
A-W-1uczestnictwo w zajęciach30
A-W-2Wkład własny studenta20
50
(*) 1 punkt ECTS, odpowiada około 30 godzinom aktywności studenta
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_W01Ma podstawową wiedzę na temat projektowania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_W06ma wiedzę z zakresu metrologii
Cel przedmiotuC-1Zapoznanie zasadami statystycznego sterowania procesami kontroli procesów produkcji wyrobów (oceny dostawców).
C-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
Sposób ocenyS-1Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny obejmujący zakres tematyczny wykładów i sprawdzający uzyskane efekty kształcenia.
S-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_W02Student ma podstawową wiedzę jak walidować zdolność elementów statystycznego systemu kontroli produkcji (dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_W10zna uwarunkowania prawne związane z obszarem inżynierii produkcji i działalności gospodarczej
Cel przedmiotuC-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_W03Student powinien być w stanie objaśniać i tłumaczyć zasady statystycznego sterowania procesami produkcji (oceny dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_W03zna podstawowe metody, techniki, narzędzia i technologie w wybranym obszarze inżynierii produkcji ze szczególnym uwzględnieniem komputerowego wspomagania projektowania i wytwarzania
Cel przedmiotuC-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-1Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny obejmujący zakres tematyczny wykładów i sprawdzający uzyskane efekty kształcenia.
S-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_W04Student powinien być w stanie zaproponować metody doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną (być w stanie zdefiniować zasady rozwoju dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_W16ma wiedzę z zakresu ekonomii oraz zarządzania produkcją i usługami, w tym zarządzania jakością, i prowadzenia działalności gospodarczej
Cel przedmiotuC-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
C-4Ukształtowanie umiejętności ciągłego rozwoju systemó jakości opartych o wykorzystanie kontroli statystycznej.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
Metody nauczaniaM-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego
4,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców), potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości.
4,5Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości, a także dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości.
5,0Ma podstawową wiedzę na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców). Potrafi dobrać podstawowe narzędzia systemu kontrolnego oraz zaprojektować system utrzymania wymaganego poziomu jakości. Potrafi dokonać samodzielnie walidacji systemu jakości, oraz wskazać możliwości doskonalenia (rozwoju) opracowanego systemu jakości.
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_U01Ma umiejętności projektowania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_U06ma umiejętności w zakresie prowadzenia działań projakościowych w wybranym obszarze produkcji
Cel przedmiotuC-1Zapoznanie zasadami statystycznego sterowania procesami kontroli procesów produkcji wyrobów (oceny dostawców).
C-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-1Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny obejmujący zakres tematyczny wykładów i sprawdzający uzyskane efekty kształcenia.
S-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_U02Student ma podstawowe umiejętności w zakresie walidacji zdolności elementów statystycznego systemu kontroli produkcji (dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_U16potrafi zidentyfikować i rozwiązać podstawowy problem techniczny, technologiczny lub organizacyjny związany z procesem produkcji
Cel przedmiotuC-1Zapoznanie zasadami statystycznego sterowania procesami kontroli procesów produkcji wyrobów (oceny dostawców).
C-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-1Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny obejmujący zakres tematyczny wykładów i sprawdzający uzyskane efekty kształcenia.
S-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_U03Student powinien potrafić wdrożyć w przedsiębiorstwie zasady statystycznego sterowania procesami produkcji (oceny dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_U22ma umiejętności w zakresie rozumienia i stosowania w praktyce zdobytej wiedzy
Cel przedmiotuC-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
C-4Ukształtowanie umiejętności ciągłego rozwoju systemó jakości opartych o wykorzystanie kontroli statystycznej.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_U04Student potrafi zaproponować logiczne rozwiązania w zakresie doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_U26ma umiejętności w zakresie doboru prostych systemów usprawniania i automatyzacji procesów produkcji
Cel przedmiotuC-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
C-4Ukształtowanie umiejętności ciągłego rozwoju systemó jakości opartych o wykorzystanie kontroli statystycznej.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Ma podstawowe umiejętności na temat statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_K01Wyniku zrealizowanych zajęć winien chętnie podchodzić do wdrażania statystycznych systemów kontroli procesów produkcyjnych (mieć świadomość statystycznej oceny dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_K03ma kompetencje w zakresie świadomej odpowiedzialności za wspólnie realizowane zadania
Cel przedmiotuC-1Zapoznanie zasadami statystycznego sterowania procesami kontroli procesów produkcji wyrobów (oceny dostawców).
C-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-1Ocena podsumowująca: Egzamin pisemny obejmujący zakres tematyczny wykładów i sprawdzający uzyskane efekty kształcenia.
S-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Student potrafi zaprezentować i przeanalizować wyniki otrzymane po w skutek stosowania statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0
PoleKODZnaczenie kodu
Zamierzone efekty uczenia sięZIIP_1A_IJZ/23_K02Student powinien być zdeterminowany do ciągłego doskonalenia systemu jakości opartego o kontrolę statystyczną (mieć świadomość potrzeby ciągłego rozwoju dostawców)
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiówZIIP_1A_K01ma świadomość potrzeby dokształcania ze szczególnym uwzględnieniem samokształcenia się
Cel przedmiotuC-2Ukształtowanie umiejętności prowadzenia statystycznej kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych i procesów produkcji.
C-3Ukształtowanie umiejętności projektowania i posługiwania się kartami kontrolnymi.
C-4Ukształtowanie umiejętności ciągłego rozwoju systemó jakości opartych o wykorzystanie kontroli statystycznej.
Treści programoweT-P-1P1 - Zdefiniowanie podstaw funkcjonowania systemu nadzorowania/sterowania jakością w oparciu o kontrolę statystyczną. Określenie specyfikacji odpowiedzialnych za funkcjonalność wyrobu. P2 - Dobór i określenie zdolności narzędzi pomiarowych w statystycznej kontroli wyrobów produkowanych seryjnie (kontroli dostawcy). P3 - Statystyczna kwalifikacja zdolności procesu produkcyjnego (dostawcy), określenie naturalnej wydolności procesu oraz spodziewanego poziomu wadliwości. P4 - Nadzór nad wybranymi specyfikacjami wyrobu z wykorzystaniem kart kontrolnych, określenie potencjalnych źródeł niestabilności procesu. P5 - DMAIC w usprawnianiu systemu jakości opartego o statystyczną kontrolę wyrobów. Podstawy data mining, (w tym DOE/Pareto) w ustalaniu potencjalnych możliwości ograniczenia wadliwości produkcji.
T-W-1T1 - Proces wytwórczy, proces montażowy (z pełną i niepełną zamiennością). Specyfikacje wyrobów z obustronnymi granicami tolerancji oraz jednostronnymi granicami (błędy kształtu, kierunku, położenia i bicia). T2 - Podstawy doboru systemów pomiarowych do statystycznego nadzorowania/kontrolowania procesów produkcji (dostaw). T3 - Podstawy kombinatoryki, parametry określające stan procesu (zmienność i położenie), statystyczna kontrola nieznanych właściwości populacji (procesu/dostawcy) poprzez reprezentatywne próbki. T4 - Statystyczne modele procesów produkcji. Planowanie procesu kontroli na podstawie właściwości oczekiwanego rozkładu empirycznego. T5 - Podstawy analizy wariancji w ustalaniu źródeł zmienności (zmienność wewnątrz grupowa, zmienność między grupowa, interakcje). Wykorzystanie analizy ANOVA w kwalifikacji zdolności systemów pomiarowych (ANOVA/Tolerancja, ANOVA/Zmienność procesu). T6 - Badanie zdolności procesu (zdolność krótkoterminowa, zdolność długoterminowa), T7 - Zasady ustalania granic kontrolnych dla nadzorowanych statystycznie specyfikacji wyrobu. Projektowanie i wykorzystanie karty kontrolnej do serowania położeniem i/lub zmiennością procesu. T8 - Zasady kwalifikacji zdolności systemów kontrolnych dla cech wyrobów nadzorowanych w sposób alternatywny (Go/NoGo). T9 - Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych dla zmiennych ilościowych dyskretnych. T10 - Podstawy rozwoju systemów jakości (dostawców) z wykorzystaniem data mining.
Metody nauczaniaM-1Wykład: metoda podająca w postaci wykładu informacyjnego.
M-2Ćwiczenia audytoryjne: metoda praktyczna (metoda projektów z elementami metody pokazu).
Sposób ocenyS-2Ocena formująca: Ocena postępów podczas ćwiczeń audytoryjnych w nabywaniu umiejętności projektowania systemów kontroli opartych o metody statystyczne.
S-3Ocena formująca: Zaliczenie ćwiczeń audytoryjnych w formie pracy projektowej obejmującej tematykę ćwiczeń
Kryteria ocenyOcenaKryterium oceny
2,0
3,0Student potrafi zaprezentować i przeanalizować wyniki otrzymane po w skutek stosowania statystycznej kontroli procesów produkcyjnych (dostawców)
3,5
4,0
4,5
5,0