Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Zarządzanie i inżynieria produkcji (S1)
Sylabus przedmiotu Metrologia II:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Zarządzanie i inżynieria produkcji | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Metrologia II | ||
Specjalność | przedmiot wspólny | ||
Jednostka prowadząca | Środowiskowe Laboratorium Miernictwa | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Paweł Majda <Pawel.Majda@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Emilia Bachtiak-Radka <Emilia.Bachtiak-Radka@zut.edu.pl>, Marcin Chodźko <Marcin.Chodzko@zut.edu.pl>, Paweł Dunaj <Pawel-Dunaj@zut.edu.pl>, Krzysztof Filipowicz <Krzysztof.Filipowicz@zut.edu.pl>, Marek Grudziński <marek.grudzinski@zut.edu.pl>, Paweł Herbin <Pawel.Herbin@zut.edu.pl>, Eliza Jarysz-Kamińska <Eliza.Jarysz@zut.edu.pl>, Paweł Majda <Pawel.Majda@zut.edu.pl>, Tomasz Osipowicz <Tomasz.Osipowicz@zut.edu.pl>, Jacek Zapłata <Jacek.Zaplata@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Znajomość fundamentalna zagadnień metrologicznych. |
W-2 | Wiedza z zakresu algebry i analizy matematycznej. Statystyka |
W-3 | Fizyka (w zakresie szkoły średniej) |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Zapoznanie studenta z istotą metrologii i systemów pomiarowych. Umiejętności przygotowania, doboru odpowiedniej aparatury pomiarowej (urządzeń) i metod pomiarowych do przeprowadzania prostych pomiarów. |
C-2 | Umiejętności klasyfikacji błędów, źródła błędów, określenie niepewności pomiaru. Umiejętność interpretacji otrzymanych wyników oraz i wizualizacja. |
C-3 | Wiedza o budowie i zasadzie działania urządzeń pomiarowych wchodzących w skład systemów pomiarowych. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | Pomiary temperatury i termowizja. Analiza systemu pomiarowego metodą R&R Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych Pomiary gwintów Pomiary kątów i stożków Pomiary ruchu drgającego Badanie zdolności systemów produkcyjnych | 14 |
T-L-2 | Zaliczenie | 1 |
15 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Podstawowe pojęcia metrologii i systemów pomiarowych, Definicja pomiaru, jednostki i układy miar, niedokładność pomiaru. Wzorce jednostek elektrycznych. Pomiary wielkości nieelektrycznych metodami nieelektrycznymi i elektrycznymi. Pomiar parametrów ruchu układu drgającego Cyfrowe przetwarzanie sygnałów pomiarowych. Pomiar temperatury. Metody tensometryczne. Pomiar mas, sił i momentów sił. Pomiary ciśnień. Pomiary odległości. Pomiar wilgotności. Pomiar przepływów. Pomiar mocy cieplnej. Pomiary termowizyjne. | 28 |
T-W-2 | Zaliczenie | 2 |
30 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | Wkład własny studenta | 10 |
A-L-2 | uczestnictwo w zajęciach | 15 |
25 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Wkład własny studenta | 20 |
A-W-2 | uczestnictwo w zajęciach | 30 |
50 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Wykład multimedialny z elementami konwersatoryjnymi. |
M-2 | Metoda problemowa; w odniesieniu do wykładu, tej jej części, w której dyskutowane jest aktywizujące audytorium rozwiązywanie problemu obliczeniowego. |
M-3 | W odniesieniu do zajęć laboratoryjnych pokaz i demonstracja. Realizacja przez studentów ćwiczeń laboratoryjnych. |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena podsumowująca: W odniesieniu do wykładu; ocena podsumowująca: końcowy zaliczenie pisemne lub ustne. |
S-2 | Ocena formująca: W odniesieniu do ćwiczeń laboratoryjnych; ocena formująca: sprawdziany pisemne i ustne wejściowe do ćwiczeń, ocena jakości po ćwiczeniowych. |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
ZIIP_1A_IJZ/06_W01 W odniesieniu do wybranego punktu programu kierunku studiów: zna podstawy metrologii i techniki systemów pomiarowych. | ZIIP_1A_W06, ZIIP_1A_W13, ZIIP_1A_W15 | — | — | C-1, C-3 | T-W-1 | M-1, M-2 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
ZIIP_1A_IJZ/06_U01 Student posiada umiejętność w dokonywaniu prostych pomiarów nieelektrycznych i elektrycznych. Potrafi analizować działania przetworników pomiarowych przy uwzględnieniu przyrządów pomiarowych. | ZIIP_1A_U03, ZIIP_1A_U14, ZIIP_1A_U21 | — | — | C-2 | T-L-1 | M-3, M-2 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - inne kompetencje społeczne i personalne
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
ZIIP_1A_IJZ/06_K01 Świadomie rozumie potrzeby dokształcania się, gdyż kolejne generacje rozwiązań sprzętowych będa wnosiły nowy zakres wiedzy. | ZIIP_1A_K01, ZIIP_1A_K07 | — | — | C-1, C-3 | T-L-1, T-W-1 | M-3, M-1, M-2 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
ZIIP_1A_IJZ/06_W01 W odniesieniu do wybranego punktu programu kierunku studiów: zna podstawy metrologii i techniki systemów pomiarowych. | 2,0 | Student nie opanował podstawowej wiedzy z zakresu przedmiotu. |
3,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Nie potrafi kojarzyć i analizować nabytej wiedzy. | |
3,5 | Student opanował wiedzę w stopniu pośrednim między oceną 3,0 a 4,0. | |
4,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Zna ograniczenia i obszary jej stosowania. | |
4,5 | Student opanował wiedzę w stopniu pośrednim między oceną 4,0 a 5,0. | |
5,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Rozumie ograniczenia i zna obszary jej stosowania. |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
ZIIP_1A_IJZ/06_U01 Student posiada umiejętność w dokonywaniu prostych pomiarów nieelektrycznych i elektrycznych. Potrafi analizować działania przetworników pomiarowych przy uwzględnieniu przyrządów pomiarowych. | 2,0 | Nie potrafi poprawnie rozwiązywać zadań. Przy wykonywaniu ćwiczeń laboratoryjnych nie potrafi wyjaśnić sposobu działania i ma problem z formułowaniem wniosków. |
3,0 | Student rozwiązuje podstawowe zadania. Popełnia błędy. Ćwiczenia praktyczne realizuje poprawnie ale w sposób bierny. | |
3,5 | Student posiadł umiejętność w stopniu pośrednim między 3,0 a 4,0. | |
4,0 | Student umiejętnie kojarzy i analizuje nabytą wiedzę. Ćwiczenia praktyczne realizuje poprawnie, jest aktywny i potrafi interpretować uzyskane wyniki. | |
4,5 | Student posiadł umiejętność w stopniu pośrednim między 4,0 a 5,0. | |
5,0 | Student bardzo dobrze kojarzy i analizuje nabytą wiedzę. Zadania rozwiązuje metodami optymalnymi posiłkując się właściwymi technikami obliczeniowymi. Ćwiczenia praktyczne realizuje wzorowo, jest aktywny i potrafi ocenić metodę i uzyskane wyniki. |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
ZIIP_1A_IJZ/06_K01 Świadomie rozumie potrzeby dokształcania się, gdyż kolejne generacje rozwiązań sprzętowych będa wnosiły nowy zakres wiedzy. | 2,0 | Ujawnia brak zdyscyplinowania w trakcie słuchania i notowania wykładów. Przy wykonywaniu ćwiczeń praktycznych w zespołach nie angażuje się na rozwiązywanie zadań. |
3,0 | Ujawnia mierne zaangażowanie się w pracy zespołowej przy rozwiązywaniu zadań problemowych, obliczeniowych czy symulacjach. | |
3,5 | ||
4,0 | Ujawnia swą aktywną rolę w zespołowym przygotowywaniu prezentacji wyników, obliczeń czy przeprowadzonej symulacji. | |
4,5 | ||
5,0 | Ujawnia własne dążenie do doskonalenia nabywanych umiejętności współpracy w zespole przy rozwiązywaniu postawionych problemów. Student czynnie uczestniczy w pracach zespołowych. |
Literatura podstawowa
- Białas S., Humienny Z., Kiszka K., Metrologia z podstawami specyfikacji geometrii wyrobów (GPS), OWPW, 2021, 2, ISBN 978-83-8156-292-8
- Jakubiec W. , Malinowski J., Metrologia wielkości geometrycznych, PWN, 2018
- Ratajczyk E., Woźniak A., Współrzędnościowe systemy pomiarowe, OWPW, 2016
- Jakubiec W., Zator S., Majda P., Metrologia, Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa, 2014, 1, ISBN 978-83-208-2175-8
- Stanisław Adamczak, Włodzimierz Makieła, Metrologia w budowie maszyn, Zadania z rozwiązaniami, PWN, Warszawa, 2018
- Augustyn Chwaleba, Metrologia elektryczna, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 2000
- Jan Tomasik i inni, Współczesna metrologia - wybrane zagadnienia, Wydawnictwo Techniczne, Warszawa, 2009
- Tumański Sławomir, Technika pomiarowa, WNT, Warszawa, 2007
- Janusz Piotrowski, Podstawy miernictwa, WNT, 2002, ISBN: 83-204-2724-X
Literatura dodatkowa
- Dusza J., Gąsior P. Tarapata G., Podstawy pomiarów, OWPW, 2019, ISBN: 978-83-7814-807-4
- Piotrowski J. , Kostyrko K., Wzorcowanie aparatury pomiarowej, PWN, 2012
- Waldemar Nawrocki, Rozproszone systemy pomiarowe, Wydawnictwo WKiŁ, 2006, ISBN: 83-206-1600-X
- Jerzy Rydzewski, Pomiary oscyloskopowe, WNT, 2007, ISBN: 978-83-204-3368-5