Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Inżynieria materiałowa (S1)
Sylabus przedmiotu Metrologia techniczna II:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Inżynieria materiałowa | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Metrologia techniczna II | ||
Specjalność | przedmiot wspólny | ||
Jednostka prowadząca | Katedra Technologii Materiałowych | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Paweł Kochmański <Pawel.Kochmanski@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | |||
ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Rodzaje, źródła błędów pojęcia teorii błędów pomiarowych. Elementy statystyki - rodzaje błędów standardowych,rozkład normalny - rozkład równomierny. |
W-2 | Rodzaje i źródła błędów. Podstawowe pojęcia teorii błędów pomiarowych. Elementy statystyki - rodzaje błędów standardowych, rozkład normalny - rozkład równomierny |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Celem przedmiotu jest zapoznanie studentów z podstawową wiedzą z zakresu metrologii ogólnej oraz technicznej, poznanie terminologii stosowanej w metrologii wielkości geometrycznych typowej dla opisu elementów maszyn oraz zasad ich tolerowania. Poznanie metod i technik pomiarowych, w tym współrzędnościowej techniki pomiarowej z wzorcami i przyrządami pomiarowymi wielkości geometrycznych oraz zasadami analizy dokładności wyników pomiaru, a takŜe sprzętu pomiarowego stosowanego w pomiarach elementów maszyn. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | POMIARY MIKROSKOPEM WARSZTATOWYM POMIARY TEMPERATURY Pomiary geometrii powierzchni Pomiary twardości Pomiar mikrotwardości Nanoindentacja Pomiary w technice próżniowej | 15 |
15 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Pomiary twardości metodami: Vickersa, Knoopa, Rockwella, Shore'a, Brinella, Leeb'a, Poldi'ego. Zasady wykonywania pomiarów, urządzenia pomiarowe. Pomiary temperatury. Pomiary w technice próżniowej. Nanoindentacja. | 15 |
15 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | zajęcia laboratoryjne | 15 |
A-L-2 | opracowania sprawozdań | 11 |
26 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestnictwo w wykładzie | 15 |
A-W-2 | Praca własna studenta | 10 |
25 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Wykład, jako podstawowa forma zajęć, materiały pomocnicze: zdjęcia, rysunki, schematy przekazywane za pomocą środków audiowizualnych. Dyskusja ze studentami nad wybranymi problemami z zakresu budowy narzedzi pomiarowych, sposobów pomiarów, nowinek technicznych z zakresu metrologii. |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena formująca: W trakcie prowadzonych prowadzonych zajęć obserwacja studenów, dyskusja nad wybranycmi częściami wykładu. Ocena umiejętności notowania, sumienności i frekfencji. Ocena na podstawie testu psrawdzającego. |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IM_1A_C37_W01 W trakcie prowadzonych laboratoryjnych przewidziana możliwośc zdobycia umiejętności poslugiwania się aparaturą pomiarową. Umiejetnosc samodzielnego poruszania się po problematyce specjalistycznej metrologii technicznej. | IM_1A_W14 | — | — | C-1 | T-W-1 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IM_1A_C37_U01 W trakcie prowadzonych laboratoryjnych przewidziana możliwośc zdobycia umiejętności poslugiwania się aparaturą pomiarową. Umiejetnosc samodzielnego poruszania się po problematyce specjalistycznej metrologii technicznej. | IM_1A_U01, IM_1A_U15, IM_1A_U16 | — | — | C-1 | T-L-1 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty uczenia się - inne kompetencje społeczne i personalne
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
IM_1A_C37_K01 Student potrafi dobrać odpowiednią metodę pomiarową do pomiarów danej cechy wyrobu lub materiału. Potrafi zinterpretować wyniki pomiarów i przedstawić je w odpowiedni sposób. | IM_1A_K01 | — | — | C-1 | T-L-1 | M-1 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IM_1A_C37_W01 W trakcie prowadzonych laboratoryjnych przewidziana możliwośc zdobycia umiejętności poslugiwania się aparaturą pomiarową. Umiejetnosc samodzielnego poruszania się po problematyce specjalistycznej metrologii technicznej. | 2,0 | nie uczęszczal na zajęcia i nie zna podstaw metrologii |
3,0 | zna podstawy metrologii i posiada notatki na poziomie dostatecznym | |
3,5 | zna podstawy metrologii, posiada notatki na poziomie dostatecznym, uczestniczył w wykładach | |
4,0 | zna podstawy metrologii, posiada dobre notatki , uczestniczył czynnie w wykładach, zna dobrze wybrane zagadnienia z metrologii | |
4,5 | zna podstawy metrologii, posiada bardzo dobre notatki , uczestniczył czynnie w wykładach, zna dobrze wybrane zagadnienia z metrologii | |
5,0 | zna podstawy metrologii, posiada bardzo dobre notatki , uczestniczył czynnie w wykładach, zna bardzo dobrze wybrane zagadnienia z metrologii |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IM_1A_C37_U01 W trakcie prowadzonych laboratoryjnych przewidziana możliwośc zdobycia umiejętności poslugiwania się aparaturą pomiarową. Umiejetnosc samodzielnego poruszania się po problematyce specjalistycznej metrologii technicznej. | 2,0 | |
3,0 | Student posiada umiejetnosc samodzielnego poruszania się po problematyce specjalistycznej metrologii technicznej. | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IM_1A_C37_K01 Student potrafi dobrać odpowiednią metodę pomiarową do pomiarów danej cechy wyrobu lub materiału. Potrafi zinterpretować wyniki pomiarów i przedstawić je w odpowiedni sposób. | 2,0 | |
3,0 | 80% obecności | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- 1. Jakubiec W. i inni., Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa 2004. 2. Bialas S., Metrologia techniczna z podstawami tolerowania wielkości geometrycznych dla mechaników. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2006. 3. Praca zbiorowa., Specyfikacje Geometrii Wyrobów (GPS) – wykład dla uczelni technicznych. OW Politechnika Warszawska, Warszawa 2001. 4. Ratajczak E., Współrzędnościowa technika pomiarowa. OW Politechnika Warszawska. Warszawa 1996. 5. Wykłady z metrologii wielkości geometrycznych., www.metrologia.pwr.wroc.pl, ., ., ., 2011, ., .
- 1) Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna. WNT, Warszawa, 2003. 2) Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych; WNT, Warszawa 2004 3) Jezierski J.: Analiza tolerancji i niedokładności pomiarów w budowie maszyn; WNT, Warszawa 1994. 4) Lesiak P., Świsulski D.: Komputerowa technika pomiarowa w przykładach, Wyd. Ag. PAK, W-wa, 2002. 5) Miłek M.: Metrologia elektryczna wielkości nieelektrycznych, Oficyna Wydawnicza Uniwersytetu Zielonogórskiego, Zielona Góra 2006. 6) Nawrocki W.: Sensory i systemy pomiarowe, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2006., ., ., ., 2011, ., .
- 1. Jakubiec W. i inni., Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa 2004. 2. Bialas S., Metrologia techniczna z podstawami tolerowania wielkości geometrycznych dla mechaników. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2006. 3. Praca zbiorowa., Specyfikacje Geometrii Wyrobów (GPS) – wykład dla uczelni technicznych. OW Politechnika Warszawska, Warszawa 2001. 4. Ratajczak E., Współrzędnościowa technika pomiarowa. OW Politechnika Warszawska. Warszawa 1996. 5. Wykłady z metrologii wielkości geometrycznych., www.metrologia.pwr.wroc.pl, ., ., ., 2011, ., .
Literatura dodatkowa
- 1. Malinowski J., Pomiary długości i kąta w budowie maszyn. WSiP, Warszawa 1998. 2. Sałaciński T., Elementy metrologii wielkości geometrycznych. Przykłady i zadania. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000. 3. Dobosz.M, Współczesne metody pomiarów wielkości geometrycznych. Elektronizacja 4/96. 4. Malinowski J., Pomiary długości i kąta. WNT, Warszawa 1994., ., ., ., 2011, ., .