Wydział Elektryczny - Automatyka i robotyka (S2)
Sylabus przedmiotu Systemy pomiarowe:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Automatyka i robotyka | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
| Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Systemy pomiarowe | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Katedra Automatyki i Robotyki | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Artur Wollek <Artur.Wollek@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | Andrzej Biedka <Andrzej.Biedka@zut.edu.pl>, Jerzy Sawicki <Jerzy.Sawicki@zut.edu.pl> | ||
| ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Matematyka w zakresie podstawowym |
| W-2 | Znajomość podstaw Metrologii |
| W-3 | Znajomość podstaw techniki cyfrowej |
| W-4 | Znajomość podstaw metod numerycznych |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Student nabędzie wiedzę z zakresy przymysłowych wzorców metrologicznych |
| C-2 | Student nabędzie wiedzę z systemów pomiarowych |
| C-3 | Student nabędzie umiejętności z zakresu akwizycji i przetwarzania sygnałów w systemach pomiarowych |
| C-4 | Student pozna metody łączenia i programowania elementów systemów pomiarowych |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Wprowadzenie do laboratorium. | 1 |
| T-L-2 | Badanie wybranego układu kondycjonującego. | 3 |
| T-L-3 | Badanie parametrów i charakterystyk przetworników temperatury | 2 |
| T-L-4 | Badanie przetworników odległości i przesuniecia liniowego | 2 |
| T-L-5 | Pomiary siły/nacisku. | 2 |
| T-L-6 | Badanie wzorców częstotliwości. | 2 |
| T-L-7 | Akwizycja sygnałów w systemach pomiarowych. | 2 |
| T-L-8 | Zaliczenie pierwszej części zajęć laboratoryjnych. | 2 |
| T-L-9 | Programowanie kart akwizycji danych (DAQ) | 4 |
| T-L-10 | Interfejsy i porty komunikacyjne w systemach pomiarowych | 2 |
| T-L-11 | Automatyczne wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych elementów biernych i czynnych. | 2 |
| T-L-12 | Automatyczne wyznaczanie charakterystyk częstotliowściowych obiektu. | 2 |
| T-L-13 | Generowanie sygnałów kontrolnych i sterujących w systemach pomiarowych | 2 |
| T-L-14 | Zaliczenie laboratorium | 2 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Redefinicja układu jednostek miar SI | 2 |
| T-W-2 | Wzorce metrologiczne | 4 |
| T-W-3 | Systemy pomiarowe w przemyśle | 2 |
| T-W-4 | Czujniki pomiarowe w zastosowaniach przemysłowych | 2 |
| T-W-5 | Akwizycja sygnałów pomiarowych w systemach przemysłowych | 3 |
| T-W-6 | Łącza i protokoły komunikacyjne w zastosowaniach przemysłowych. Zaliczenie wykładów. | 2 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | Uczestniczenie w zajęciach | 30 |
| A-L-2 | Przygotowanie do zajęć laboratoryjnych | 10 |
| A-L-3 | Przygotowanie do zaliczenia | 10 |
| 50 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestniczenie w zajęciach | 15 |
| A-W-2 | Samodzielne studiowanie literatury | 5 |
| A-W-3 | Przygotowanie do zaliczenia zajęć | 5 |
| 25 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Wykład informacyjny |
| M-2 | Ćwiczenia laboratoryjne wykorzystujące wiedzę przedstawioną na wykładzie z zakresu przemysłowych systemów pomiarowych |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: Ocena wystawiana na początku ćwiczeń laboratoryjnych na podstawie odpowiedzi pisemnej na tematy związane z konkretnym ćwiczeniem |
| S-2 | Ocena podsumowująca: Ocena końcowa z laboratorium na podstawie ocen cząstkowych uzyskanych z zaliczenia poszczególnych ćwiczeń |
| S-3 | Ocena podsumowująca: Ocena pisemna na podstawie pisemnego zaliczenia treści wykładów |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| AR_2A_C06_W01 Student posiada podstawową wiedzę z zakresu przemysłowych wzorców pomiarowych i systemów pomiarowych | AR_2A_W02 | — | — | C-1, C-2 | T-W-3, T-W-5, T-W-4, T-W-2, T-W-1, T-W-6 | M-1 | S-3 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| AR_2A_C06_U01 Student potrafi prawidłowo połączyć i skonfigurować prosty system pomiarowy | AR_2A_U02 | — | — | C-4, C-3 | T-L-4, T-L-3, T-L-5, T-L-1, T-L-8, T-L-6, T-L-2 | M-2 | S-2, S-1 |
| AR_2A_C06_U02 Student potrafi tworzyć w języku graficznym oprogramowanie sterujące pracą systemu pomiarowego | AR_2A_U02 | — | — | C-4, C-3 | T-L-13, T-L-10, T-L-9, T-L-14, T-L-12, T-L-11, T-L-7 | M-2 | S-2, S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| AR_2A_C06_W01 Student posiada podstawową wiedzę z zakresu przemysłowych wzorców pomiarowych i systemów pomiarowych | 2,0 | Średnia z ocen odpowiedzi na pytania na zaliczeniu jest poniżej 3,00 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) |
| 3,0 | Średnia z ocen odpowiedzi na pytania na zaliczeniu jest w zakresie od 3,00 do 3,24 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 3,5 | Średnia z ocen odpowiedzi na pytania na zaliczeniu jest w zakresie od 3,25 do 3,74 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 4,0 | Średnia z ocen odpowiedzi na pytania na zaliczeniu jest w zakresie od 3,75 do 4,24 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 4,5 | Średnia z ocen odpowiedzi na pytania na zaliczeniu jest w zakresie od 4,25 do 4,74 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 5,0 | Średnia z ocen odpowiedzi na pytania na zaliczeniu jest większa lub równa 4,75 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| AR_2A_C06_U01 Student potrafi prawidłowo połączyć i skonfigurować prosty system pomiarowy | 2,0 | Średnia z form ocen jest poniżej 3,00 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) |
| 3,0 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 3,00 do 3,24 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 3,5 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 3,25 do 3,74 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 4,0 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 3,75 do 4,24 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 4,5 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 4,25 do 4,74 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 5,0 | Średnia z form ocen jest większa lub równa 4,75 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| AR_2A_C06_U02 Student potrafi tworzyć w języku graficznym oprogramowanie sterujące pracą systemu pomiarowego | 2,0 | Średnia z form ocen jest poniżej 3,00 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) |
| 3,0 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 3,00 do 3,24 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 3,5 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 3,25 do 3,74 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 4,0 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 3,75 do 4,24 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 4,5 | Średnia z form ocen jest w zakresie od 4,25 do 4,74 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) | |
| 5,0 | Średnia z form ocen jest większa lub równa 4,75 (po zaokrągleniu do dwóch miejsc po przecinku) |
Literatura podstawowa
- Kulka Z., Libura A., Nadachowski M., Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe, WKiŁ, Warszawa, 1987
- Tumański S., Technika pomiarowa, WNT, Warszawa, 2007
- Nawrocki W, Komputerowe systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2002
- Winiecki W., Graficzne zintegrowane środowiska pomiarowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych, MIKOM, Warszawa, 2001
- Nawrocki W., Rozproszone systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2006
- Dudziewicz J., Etalony i precyzyjne pomiary wielkości elektrycznych, WKŁ, Warszawa, 1982
Literatura dodatkowa
- Dokumentacja techniczna i materiały wskazane przez prowadzącego