Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów (S1)
Sylabus przedmiotu Metody badań materiałów funkcjonalnych:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Inżynieria Materiałów i Nanomateriałów | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
| Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Metody badań materiałów funkcjonalnych | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Katedra Fizykochemii Nanomateriałów | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Ewa Mijowska <Ewa.Borowiak-Palen@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | Rafał Wróbel <Rafal.Wrobel@zut.edu.pl>, Beata Zielinska <Beata.Zielinska@zut.edu.pl> | ||
| ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Chemia ogólna i nieorganiczna I i Ii |
| W-2 | Chemia fizyczna I i II |
| W-3 | Inżynieria materiałowa |
| W-4 | Fizyka |
| W-5 | Chemia analityczna |
| W-6 | Analiza instrumentalna |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zapoznanie studentów z nowoczesnymi metodami spektroskopowymi i analizy termicznej wykorzystywanymi w badaniach materiałów funkcjonalnych |
| C-2 | Zdobycie umiejętności wykorzystania wybranych technik instrumentalnych do charaktrystyki materiałów funkcjonalnych. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Proszkowa dyfrakcja rentgenowska XRD - wyznaczanie średniej wielkości krystalitów materiałów nanokrystalicznych | 5 |
| T-L-2 | Skaningowa mikroskopia elektronowa w badaniu nanomateriałów | 5 |
| T-L-3 | Mikroanaliza rentgenowska z dyspersią energii - SEM/EDX | 5 |
| 15 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Spektroskopia absorpcyjna i emisyjna. Podstawy teoretyczne. | 3 |
| T-W-2 | Wykorzystanie spektroskopii optycznej w analizie wybranych parametrów nanomateriałów funkcjonalnych. | 2 |
| T-W-3 | Spektroskopia fluorescencyjna - wstęp i wykorzystanie do analizy materiałów funkcjonalnych. | 2 |
| T-W-4 | Mikro-spektroskopia Ramana. Wyznaczenie zależności przesunięcia ramanowskiego w funkcji rozmiaru nanokrystalitów. Poznanie zjawiska wzmocnienia sygnału ramanowskiego. Analiza przykładów. | 2 |
| T-W-5 | Spektroskopia fotoelektronów. | 2 |
| T-W-6 | Metody analizy termicznej nanomateriałów | 2 |
| T-W-7 | Zaliczenie z treści poznanych na zajęciach. | 2 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | uczestnictwo w zajęciach | 15 |
| A-L-2 | Przygotowanie do zaliczenia | 8 |
| A-L-3 | Konsultacje z prowadzącym | 2 |
| A-L-4 | Przygotowanie sprawozdań z laboratoriów | 5 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo w wykładach | 15 |
| A-W-2 | Zapoznanie się z literaturą przedmiotu | 5 |
| A-W-3 | Konsultacje z prowadzącym | 2 |
| A-W-4 | Przygotowanie do zaliczenia | 8 |
| 30 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Prezentacja multimedialna |
| M-2 | Zajęcia praktyczne w laboratorium |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: Sprawozdanie z laboratoriów |
| S-2 | Ocena podsumowująca: Zaliczenie pisemne |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_1A_C27_W01 Wymienia i opisuje techniki instrumentalne stosowane do charakterystyki materiałów i nanomateriałów. | IMiN_1A_W06 | — | — | C-1 | T-W-4, T-W-1, T-W-3, T-W-2, T-W-5, T-W-6 | M-1 | S-2 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
| Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| IMiN_1A_C27_U01 stosuje wybrane techniki instrumentalne do charakterystyki materiałów i nanomateriałów | IMiN_1A_U07 | — | — | C-2 | T-L-2, T-L-3, T-L-1 | M-2 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_1A_C27_W01 Wymienia i opisuje techniki instrumentalne stosowane do charakterystyki materiałów i nanomateriałów. | 2,0 | |
| 3,0 | Na zaliczeniu pisemnym uzyskał od 50 do 65 punktów procentowych | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IMiN_1A_C27_U01 stosuje wybrane techniki instrumentalne do charakterystyki materiałów i nanomateriałów | 2,0 | |
| 3,0 | Na zaliczeniu pisemnym uzyskał od 50 do 65 punktów procentowych | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- Kęcki Z, Podstawy spektroskopii molekularnej, PWN, Warszawa, 1992
- Bojarski Z., Łągiewka E, Rentgenowska Analiza Strukturalna, PWN, Warszawa, 1988
- Sokołowski J., Pluta B., Nosiła M, Elektronowy mikroskop skaningowy: zasady działania i zastosowanie, Politechnika Śląska, Gliwice, 1980
- Fahrner W. R., Nanotechnology and nanoelectronics: materials, devices, measurement techniques, Springer, 2005
- Davies A. G., Thompson J. M. T., Advances in Nanoengineering, Imperial College Press, Londyn, 2007
- Nalwa H.S, Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology, American Scientific Publishers, 2005
Literatura dodatkowa
- Pecharsky V. K., Zavalij P.Y, Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer, 2003
- Clark R. J. H., Hester R. E, Spectroscopy for surface science, John Wiley & Sons, 1998